[发明专利]重力传感器的校准方法在审

专利信息
申请号: 201810455825.0 申请日: 2018-05-14
公开(公告)号: CN109521501A 公开(公告)日: 2019-03-26
发明(设计)人: 冯笙瑀;陈瑞和;林柏翰 申请(专利权)人: 和硕联合科技股份有限公司
主分类号: G01V13/00 分类号: G01V13/00
代理公司: 隆天知识产权代理有限公司 72003 代理人: 郑特强;刘潇
地址: 中国台*** 国省代码: 中国台湾;71
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摘要:
搜索关键词: 重力传感器 校准 平面坐标 测试平台 电子装置 感测 平放 装载 存储
【权利要求书】:

1.一种重力传感器的校准方法,其特征在于,包括:

取得重力传感器所提供的初始重力坐标,其中所述初始重力坐标为装载所述重力传感器的电子装置平放于测试平台时所测得;

基于Z轴旋转所述初始重力坐标第一角度,使所述初始重力作标于X轴及Y轴的其中之一的分量为零,以取得平面坐标;

基于分量为零的所述X轴或所述Y轴旋转所述平面坐标第二角度,以使所述平面坐标于所述X轴及所述Y轴的其中另一的分量为零;以及

存储所述第一角度以及所述第二角度,以供所述重力传感器感测重力坐标时,依据所述第一角度及所述第二角度进行校准,以取得校准后重力坐标。

2.根据权利要求1所述的重力传感器的校准方法,其特征在于,所述初始重力坐标基于所述Z轴旋转至YZ平面,以使所述初始重力坐标于所述X轴的分量为零。

3.根据权利要求2所述的重力传感器的校准方法,其特征在于,基于所述Z轴旋转所述初始重力坐标的第一旋转矩阵满足

其中,θ11为所述第一角度,Gx、Gy及Gz分别为所述初始重力坐标在所述X轴、所述Y轴以及所述Z轴上的分量,Gy'及Gz'分别为所述平面坐标在所述Y轴以及所述Z轴上的分量。

4.根据权利要求3所述的重力传感器的校准方法,其特征在于,所述平面坐标基于所述X轴旋转至所述Z轴,以使所述Y轴的分量为0。

5.根据权利要求4所述的重力传感器的校准方法,其特征在于,基于所述X轴旋转所述平面坐标的第二旋转矩阵满足

其中,θ12为所述第二角度,Gz”为所述Z轴的分量。

6.根据权利要求5所述的重力传感器的校准方法,其特征在于,所述校准后重力坐标为所述重力坐标与所述第一旋转矩阵以及所述第二旋转矩阵进行矩阵相乘所得出。

7.根据权利要求1所述的重力传感器的校准方法,其特征在于,所述初始重力坐标基于所述Z轴旋转至XZ平面,以使所述Y轴的分量为零。

8.根据权利要求7所述的重力传感器的校准方法,其特征在于,基于所述Z轴旋转所述初始重力坐标的第一旋转矩阵满足

其中,θ21为所述第一角度,Gx、Gy及Gz分别为所述初始重力坐标在所述X轴、所述Y轴以及所述Z轴上的分量,Gx'及Gz'分别为所述平面坐标在所述X轴以及所述Y轴的分量。

9.根据权利要求8所述的重力传感器的校准方法,其特征在于,所述平面坐标基于所述Y轴旋转至所述Z轴,以使所述X轴的分量为零。

10.根据权利要求9所述的重力传感器的校准方法,其特征在于,基于所述Y轴旋转所述平面坐标的第二旋转矩阵满足

其中,θ22为所述第二角度,Gx'及Gz'构成所述平面坐标,Gz”为所述Z轴的分量。

11.根据权利要求10所述的重力传感器的校准方法,其特征在于,所述校准后重力坐标为所述重力坐标与所述第一旋转矩阵以及所述第二旋转矩阵进行矩阵相乘所得出。

12.根据权利要求1所述的重力传感器的校准方法,其特征在于,所述测试平台为水平且静止的平面。

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