[发明专利]驱动晶体管的参数侦测方法及装置、补偿方法

说明书

本发明提供一种驱动晶体管的参数侦测方法及装置、补偿方法，涉及显示技术领域，可侦测OLED显示装置中驱动晶体管的K值，并对驱动晶体管的K值进行补偿。一种驱动晶体管的参数侦测方法，所述驱动晶体管除栅极外的第一极与电源电压端电连接，第二极与感应线电连接；所述参数侦测方法包括：对K值进行侦测。其中，对K值进行侦测，包括：建立V_sense与V_data、K、t的第一方程式，V_data、K、t为自变量，V_sense为因变量；其中，V_data为数据电压，V_sense为所述感应线上的电压，K为驱动晶体管的K值，t为充电时间；改变t的值，得到与各t值对应的V_sense的值；使用得到的多组(t，V_sense)值，按照所述第一方程式进行曲线拟合，以根据拟合结果得到K值。

技术领域

本发明涉及显示技术领域，尤其涉及一种驱动晶体管的参数侦测方法及装置、补偿方法。

背景技术

OLED(Organic Light Emitting Diode，有机电致发光二极管)显示装置具有自发光、驱动电压低、发光效率高、响应时间短、清晰度与对比度高、近180°视角、可实现柔性显示与大面积全色显示等诸多优点，被业界公认为是最有发展潜力的显示装置。

AMOLED(Active-Matrix Organic Light Emitting Diode，有源矩阵有机发光二极管)属于主动式驱动，发光效能高，通常用作高清晰度的显示装置。

OLED是电流驱动器件，当有电流流过时OLED发光，且发光亮度由流过OLED自身的电流决定。

通常AMOLED像素驱动电路中均设有用于驱动OLED的驱动晶体管，在使用过程中，由于OLED的老化以及驱动晶体管的阈值电压偏移，会导致OLED显示装置的显示质量下降，因此，现有技术会对驱动晶体管的阈值电压进行补偿。而对于流过OLED的电流有如下公式：

其中，i为流过OLED的电流，μ为驱动晶体管的迁移率，C为驱动晶体管的沟道绝缘层电容，为驱动晶体管的宽长比，V_gs为驱动晶体管的栅源极电压，V_th为驱动晶体管的阈值电压；的值称为驱动晶体管的K值。

由于μ值在OLED显示装置使用过程中也会发生漂移，而μ值直接影响K值，因而，当K值发生漂移时，通过上述公式可知，也会对驱动晶体管的性能造成影响，从而导致OLED显示装置的显示质量下降。

发明内容

本发明的实施例提供一种驱动晶体管的参数侦测方法及装置、补偿方法，可侦测OLED显示装置中驱动晶体管的K值，并对驱动晶体管的K值进行补偿，以提升OLED显示装置的品质。

为达到上述目的，本发明的实施例采用如下技术方案：

第一方面，提供一种驱动晶体管的参数侦测方法，所述驱动晶体管除栅极外的第一极与电源电压端电连接，第二极与感应线电连接；所述参数侦测方法包括：对K值进行侦测。

其中，对K值进行侦测，包括：建立V_sense与V_data、K、t的第一方程式，V_data、K、t为自变量，V_sense为因变量；其中，V_data为数据电压，V_sense为所述感应线上的电压，K为驱动晶体管的K值，t为充电时间；改变t的值，得到与各t值对应的V_sense的值；使用得到的多组(t，V_sense)值，按照所述第一方程式进行曲线拟合，以根据拟合结果得到K值。