[发明专利]一种激光雷达的校正系统和激光雷达测距装置在审
申请号: | 201810462764.0 | 申请日: | 2018-05-15 |
公开(公告)号: | CN108646232A | 公开(公告)日: | 2018-10-12 |
发明(设计)人: | 宋涛;张国鹏;董利军 | 申请(专利权)人: | 宁波傲视智绘光电科技有限公司 |
主分类号: | G01S7/497 | 分类号: | G01S7/497;G01S17/08 |
代理公司: | 深圳市威世博知识产权代理事务所(普通合伙) 44280 | 代理人: | 钟子敏 |
地址: | 315000 浙江省宁波市高新*** | 国省代码: | 浙江;33 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 激光探测器 光学组件 激光测距 激光雷达 激光信号 相机 五维调整架 底座 光斑 测距装置 校正系统 图像 并列设置 传输路径 光源设置 间隔设置 正系统 同轴 光源 申请 照射 发射 | ||
1.一种激光雷达的校正系统,其特征在于,所述校正系统包括:底座、激光测距光学组件、激光探测器、相机、光源以及五维调整架;其中,
所述激光测距光学组件与所述五维调整架并列设置在所述底座上,所述激光测距光学组件用于发射第一激光信号和接收第二激光信号;
所述激光探测器设置在所述五维调整架上,并且所述激光探测器位于所述激光测距光学组件的上方,所述激光探测器用于将所述第二激光信号转换为电信号;
所述相机与所述激光测距光学组件间隔设置在所述底座上,并且设置在所述第一激光信号的传输路径上,所述相机根据所述第一激光信号形成光斑;
所述光源设置在所述相机的一侧,用于照射所述激光探测器,所述相机进一步获取所述激光探测器的图像,所述五维调整架用于调整所述激光探测器的位置,以使所述光斑与所述图像的中心位置重叠。
2.根据权利要求1所述的校正系统,其特征在于,所述激光测距光学组件包括同轴设置的激光发射器和激光接收器,所述激光发射器用于发射所述第一激光信号,所述激光接收器用于接收所述第二激光信号。
3.根据权利要求2所述的校正系统,其特征在于,所述激光测距光学组件进一步包括反射组件,所述反射组件设置在所述激光发射器和所述激光接收器之间,所述反射组件至少包括第一反射镜和第二反射镜,所述第一反射镜和所述第二反射镜垂直设置,所述第一激光信号通过所述第一反射镜发射出去,所述第二激光信号通过所述第二反射镜进入所述激光接收器。
4.根据权利要求3所述的校正系统,其特征在于,所述第一反射镜与所述激光发射器的光轴之间的夹角为45°,所述第二反射镜与所述激光接收器的光轴之间的夹角为45°。
5.根据权利要求4所述的校正系统,其特征在于,所述校正系统还包括处理器,所述处理器分别与所述相机和所述五维调整架连接,用于从所述相机获取所述光斑和所述图像,所述处理器根据所述光斑和所述图像控制所述五维调整架调整所述激光探测器的位置,以使得所述光斑与所述图像的中心位置重叠。
6.根据权利要求3所述的校正系统,其特征在于,所述反射组件与所述激光发射器和所述激光接收器同轴设置。
7.根据权利要求1所述的校正系统,其特征在于,所述激光测距光学组件还包括第一准直器,所述第一准直器用于改善所述第一激光信号的性能。
8.根据权利要求1所述的校正系统,其特征在于,所述激光测距光学组件还包括第二准直器,所述第二准直器用于改善所述第二激光信号的性能。
9.根据权利要求1所述的校正系统,其特征在于,所述激光探测器为光电探测器、硅光电池以及成像探测器中的一种。
10.一种激光雷达测距装置,其特征在于,所述激光雷达测距装置包括如权利要求1-9任一项所述的激光雷达的校正系统、连接器以及信号处理系统,所述连接器分别与所述信号处理系统和所述校正系统耦接;
其中,所述校正系统包括激光探测器,所述激光探测器用于将所述第二激光信号转换为电信号;所述连接器用于将所述电信号发送给所述信号处理系统,所述信号处理系统用于处理所述电信号,以得到目标的宽度、高度和/或距离信息。
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