[发明专利]一种激光雷达的校正系统和激光雷达测距装置

说明书

本申请公开了一种激光雷达的校正系统和激光雷达测距装置，该校正系统包括：底座、激光测距光学组件、激光探测器、相机、光源以及五维调整架；其中，激光测距光学组件与五维调整架并列设置在底座上，激光测距光学组件用于发射第一激光信号和接收第二激光信号；相机与激光测距光学组件间隔设置在底座上，并且设置在第一激光信号的传输路径上，相机根据第一激光信号形成光斑；光源设置在相机的一侧，用于照射激光探测器，相机进一步获取激光探测器的图像，五维调整架用于调整激光探测器的位置，以使光斑与图像的中心位置重叠。通过上述方式，本申请能够实现激光测距光学组件与激光探测器的光学同轴，从而使激光探测器利用率达到最高。

技术领域

本申请涉及激光雷达探测技术领域，特别是涉及一种激光雷达的校正系统和激光雷达测距装置。

背景技术

扫描激光雷达系统是利用激光束对周围物体进行感知的设备，激光雷达发射激光束打到目标后接收到目标反射回的激光束，探测器将接受到的激光束转化为相应电信号，并通过算法计算出目标的位置。

本申请的发明人在长期的研发过程中，发现若是激光探测器接收的到激光强度不够，则无法准确的计算出目标物的位置，从而影响激光雷达的功能，因此，激光雷达装调的难点在于如何使激光探测器能探测到尽可能多的接收到反射回的激光。

申请内容

本申请主要解决的技术问题是提供一种激光雷达的校正系统和激光雷达测距装置，能够实现激光测距光学组件与激光探测器的光学同轴，且校正过程简单直观，从而使激光探测器利用率达到最高。

为解决上述技术问题，本申请采用的一个技术方案是：提供一种激光雷达的校正系统，该校正系统包括：底座、激光测距光学组件、激光探测器、相机、光源以及五维调整架；其中，激光测距光学组件与五维调整架并列设置在底座上，激光测距光学组件用于发射第一激光信号和接收第二激光信号；激光探测器设置在五维调整架上，并且激光探测器位于激光测距光学组件的上方，激光探测器用于将第二激光信号转换为电信号；相机与激光测距光学组件间隔设置在底座上，并且设置在第一激光信号的传输路径上，相机根据第一激光信号形成光斑；光源设置在相机的一侧，用于照射激光探测器，相机进一步获取激光探测器的图像，五维调整架用于调整激光探测器的位置，以使光斑与图像的中心位置重叠。

其中，该激光测距光学组件包括同轴设置的激光发射器和激光接收器，激光发射器用于发射第一激光信号，激光接收器用于接收第二激光信号。

其中，该激光测距光学组件进一步包括反射组件，反射组件设置在激光发射器和激光接收器之间，反射组件至少包括第一反射镜和第二反射镜，第一反射镜和第二反射镜垂直设置，第一激光信号通过第一反射镜发射出去，第二激光信号通过第二反射镜进入激光接收器。

其中，第一反射镜与激光发射器的光轴之间的夹角为45°，第二反射镜与激光接收器的光轴之间的夹角为45°。

其中，该校正系统还包括处理器，处理器分别与相机和五维调整架连接，用于从相机获取光斑和图像，处理器根据光斑和图像控制五维调整架调整激光探测器的位置，以使得光斑与图像的中心位置重叠。

其中，反射组件与激光发射器和激光接收器同轴设置。

其中，激光测距光学组件还包括第一准直器，第一准直器用于改善第一激光信号的性能。

其中，激光测距光学组件还包括第二准直器，第二准直器用于改善第二激光信号的性能。

其中，激光探测器为光电探测器、硅光电池以及成像探测器中的一种。