[发明专利]半导体器件及其控制方法

权利要求书

1.一种半导体器件，包括：

闪存存储器，其中存储至少N(N是等于或大于2的整数)个中断子例程程序；

中断控制电路，检测发生了N个中断因素中的一个中断因素的中断；

确定电路，基于所述中断控制电路的检测结果来确定所述N个中断因素中的每个中断因素的发生概率；

中断缓冲存储器，其中存储M(M<N)个中断子例程程序，所述M个中断子例程程序对应于所述N个中断因素中的、被所述确定电路确定为所述发生概率高的前M个中断因素；以及

算术处理电路，在发生了所述M个中断因素中的一个中断因素的中断的情况下，从所述中断缓冲存储器读取与发生的所述中断对应的中断子例程程序，并执行所述中断子例程程序。

2.根据权利要求1所述的半导体器件，

其中所述算术处理电路从所述闪存存储器中读取所述N个中断子例程程序中的、被所述确定电路确定为所述发生概率高的所述前M个中断因素对应的所述M个中断子例程程序，并将所述M个中断子例程程序存储到所述中断缓冲存储器中。

3.根据权利要求1所述的半导体器件，还包括确定结果存储单元，其中存储由所述确定电路确定的所述N个中断因素中的每个中断因素的所述发生概率的信息，

其中，所述算术处理电路将存储在所述确定结果存储单元中的所述N个中断因素中的每个中断因素的所述发生概率的所述信息与由所述确定电路新确定的所述N个中断因素中的每个中断因素的所述发生概率的信息进行比较，并且将从指示直到第M高发生频率的所述M个中断因素中排除的中断因素对应的中断子例程程序重写为向指示直到第M高发生频率的所述M个中断因素中新添加的中断因素对应的中断子例程程序。

4.根据权利要求1所述的半导体器件，

其中所述确定电路包括N个计数器，每个计数器根据所述N个中断因素中的每个中断因素的所述中断的发生来递增计数值，以及

其中与所述N个计数器中的指示直到第M大计数值的计数器对应的所述M个中断子例程程序被存储在所述中断缓冲存储器中。

5.根据权利要求4所述的半导体器件，

其中所述算术处理电路从所述闪存存储器中读取与所述N个计数器中的、指示直到第M大计数值的计数器对应的所述M个中断子例程程序，并将所述M个中断子例程程序存储到所述中断缓冲存储器中。

6.根据权利要求4所述的半导体器件，还包括确定结果存储单元，其中存储所述N个计数器中的每个计数器的计数值，

其中所述算术处理电路将存储在所述确定结果存储单元中的所述N个计数器中的每个计数器的所述计数值与所述N个计数器的每个计数器新计数的计数值进行比较，并且将与从指示直到第M大计数值的计数器中排除的计数器对应的中断子例程程序重写为与向指示直到第M大计数值的计数器新添加的计数器对应的中断子例程程序。

7.根据权利要求1所述的半导体器件，

其中所述确定电路包括N个期望值计算电路，每个期望值计算电路根据所述N个中断因素中的每个中断因素的中断的发生，来计算所述N个中断因素中的每个中断因素的中断的发生概率的期望值，以及

其中与所述N个期望值计算电路中的计算直到第M高发生频率的期望值的M个期望值计算电路对应的所述M个中断子例程程序被存储在所述中断缓冲存储器中。

8.根据权利要求7所述的半导体器件，

其中所述算术处理电路从所述闪存存储器读取与所述N个期望值计算电路中的计算直到第M高发生频率的期望值的M个期望值计算电路对应的所述M个中断子例程程序，并将所述M个中断子例程程序存储在所述中断缓冲存储器中。