[发明专利]用于测试射频元件的测试结构有效
| 申请号： | 201810492667.6 | 申请日： | 2018-05-22 |
| 公开（公告）号： | CN110470913B | 公开（公告）日： | 2021-09-24 |
| 发明（设计）人： | 方柏翔;陈冠达;赖佳助 | 申请（专利权）人： | 矽品精密工业股份有限公司 |
| 主分类号： | G01R29/10 | 分类号： | G01R29/10 |
| 代理公司： | 北京戈程知识产权代理有限公司 11314 | 代理人： | 程伟;王锦阳 |
| 地址： | 中国台湾台中*** | 国省代码： | 台湾;71 |
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| 摘要： | |||
| 搜索关键词： | 用于 测试 射频 元件 结构 | ||
【权利要求书】：
1.一种用于测试射频元件的测试结构，且该射频元件设有测试部，其特征在于，该测试结构包括：
传输线，其端部具有多个外接端口及隔离各该外接端口的绝缘体，且该外接端口上配置有探针件，以令该探针件电性连接该射频元件的测试部；以及
第一阻抗件，其设于该传输线的端部外侧，其中，该第一阻抗件包含导电部与绝缘部，该绝缘部接触该传输线的端部的外侧，该导电部设于该绝缘部的外侧并电性连接该传输线，且该绝缘部的长度为该射频元件的讯号频率所产生的电磁波的波长的四分之一。
2.根据权利要求1所述的测试结构，其特征在于，该传输线为配置于一测试设备上的电缆或线路。
3.根据权利要求1所述的测试结构，其特征在于，该第一阻抗件为环体。
4.根据权利要求1所述的测试结构，其特征在于，该测试结构还包括至少一第二阻抗件，其设于该第一阻抗件的外侧。
5.根据权利要求4所述的测试结构，其特征在于，该第二阻抗件为环体。
6.根据权利要求4所述的测试结构，其特征在于，该第二阻抗件包含第二导电部与第二绝缘部，该第二绝缘部接触该第一阻抗件的外侧，且该第二导电部设于该第二绝缘部的外侧并电性连接该第一阻抗件与该传输线。
7.根据权利要求6所述的测试结构，其特征在于，该第二绝缘部的长度对应该射频元件的讯号频率。
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