[发明专利]一种激光测距校准方法

权利要求书

1.一种激光测距装置的校准方法，其特征在于，包括如下步骤，

S1、确定基准线，使基准线穿过激光测距装置的发射器位置，或者使发射器在竖直方向的投影点落在基准线上；

S2、配置阻挡面板，使阻挡面板位于发射器对面且垂直于基准线；

S3、基于光束与阻挡面板的位置关系，检测激光测距装置相对基准线的水平偏离方向，并基于水平偏移方向调整激光测距装置至光束与基准线位于同一竖直平面上；

S4、检测激光测距装置相对于水平面的竖直偏移方向，获取竖直偏移量。

2.根据权利要求1所述激光测距装置的校准方法，其特征在于，所述步骤S3中基于水平偏移方向调整激光测距装置至光束与基准线位于同一竖直平面上，包括

S31、将阻挡面板置于背离水平偏离方向一侧，并将阻挡面板侧边与基准线重叠；

S32、将激光测距装置向背离水平偏离方向旋转，直至光束被阻挡面板阻挡，停止旋转；

S33、将阻挡面板平移至基准线另一侧，并向水平偏离方向平移激光测距装置，直至光束被阻挡面板阻挡；

S34、重复步骤S32-S33，直至光束与基准线位于同一竖直平面上。

3.根据权利要求2所述的激光测距装置的校准方法，其特征在于，所述步骤S32中将激光测距装置向背离水平偏离方向旋转，包括

以激光测距装置前端左下方为支点旋转激光测距装置。

4.根据权利要求2所述的激光测距装置的校准方法，其特征在于，所述步骤S34中直至光束与基准线位于同一竖直平面上，包括

检测光束由激光测距装置至阻挡面板的距离是否为最小值；

若是，则光束与基准线位于同一竖直平面。

5.根据权利要求1所述的激光测距装置的校准方法，其特征在于，所述步骤S3中基于光束与阻挡面板的位置关系，检测激光测距装置相对基准线的水平偏离方向，包括

将阻挡面板置于激光测距装置预设距离处；

使阻挡面板位于基准线的一侧，且将阻挡面板一侧边与基准线重合；

向基准线另一侧移动阻挡面板，检测光束是否被截阻，确定光束水平偏离方向。

6.根据权利要求1所述的激光测距装置的校准方法，其特征在于，在所述步骤S3中检测激光测距装置相对基准线的水平偏离方向之前，还包括

将阻挡面板置于激光测距装置预定距离处；

将阻挡面板持续移动，检测光束是否被阻挡面板截阻。

7.根据权利要求1所述的激光测距装置的校准方法，其特征在于，所述获取竖直偏移量，包括

将阻挡面板由最低处上移，直至光束被阻挡面板截阻停止；

获取激光测距装置距离阻挡面板的预设距离；

获取阻挡面板顶端与激光测距装置之间的垂直距离；

通过预设距离及垂直距离关系，确定激光测距装置沿竖直方向的偏移角度。

8.根据权利要求1所述的激光测距装置的校准方法，其特征在于，所述获取竖直偏移量，包括

将阻挡面板由最高处下移，直至光束被阻挡面板截阻停止；

获取激光测距装置距离阻挡面板的预设距离；

获取阻挡面板底端与激光测距装置之间的垂直距离；

通过预设距离及垂直距离关系，确定激光测距装置沿竖直方向的偏移角度。

9.根据权利要求7或8所述的激光测距装置的校准方法，其特征在于，所述获取竖直偏移量之前，还包括

平移阻挡面板至阻挡平板中心与基准线相交位置。