[发明专利]一种不同封装闪存芯片在线测试和分类方法及测试系统

权利要求书

1.一种不同封装闪存芯片在线测试和分类方法，其特征在于，包括以下步骤：

步骤1，将测试芯片与测试系统连接，以块为单位选择该测试芯片所要测试的块，并根据闪存芯片的封装不同，选择相应的测试图形测试闪存芯片物理量信息，并将测试数据实时保存；

步骤2，利用寿命预测算法，根据闪存芯片物理量信息预测闪存芯片的剩余寿命；对所述闪存芯片物理量信息进行处理获得进阶数据；

步骤3，根据闪存芯片物理量信息、剩余寿命、进阶数据，单独或者组合判断筛选闪存芯片，对闪存芯片进行分类；

其中，所述步骤3包括以下子步骤：

步骤3.1、块筛选，根据测试数据设置筛选主要参数和次要参数，划分筛选等级，将测试数据按照筛选等级划分范围；

步骤3.2、建立块筛选模型，设置主要参数和次要参数的影响因子，将块数据文档中的测试数据带入块筛选模型，得出块的等级；

步骤3.3、对测试芯片的所有测试块数据重复步骤3.2，得到N个块的等级；

步骤3.4、计算各个等级所占的权重，即各个等级块数/N；设置芯片筛选模型，将块等级占比带入芯片筛选模型，得出芯片的等级；

其中所述的闪存芯片物理量信息包括闪存芯片存储块进行一次操作的编程时间、读取时间、擦除时间、电流、原始错误比特数；所述的进阶数据包括，一个块中原始错误比特数大于某个数值的总页数、一个块中某些特征页的编程时间集合。

2.根据权利要求1所述一种不同封装闪存芯片在线测试和分类方法，其特征在于，

所述编程时间的获取方式为：在闪存芯片开始写入数据操作的同时记录经过的时钟周期，在收到闪存芯片返回数据编程完成标志后停止记录时钟周期数；编程时间值为时钟周期持续时间乘以编程时钟周期数；

所述读取时间获取方式为：记录读取操作持续的时钟周期数，读取时间值为时钟周期持续时间乘以读取时钟周期数；

所述擦除时间的获取方式为：记录擦除操作持续的时钟周期数，擦除时间值为时钟周期持续时间乘以擦除时钟周期数；

所述原始错误比特数的获取方式为：对闪存芯片执行读数据操作从闪存中读出数据，测试系统将读出的数据与写入的测试数据进行对比统计错误数据个数，为原始错误比特数；

所述进阶数据中一个块中原始错误比特数大于某个数值的总页数的获取方式为：遍历该块所有页的原始错误比特数与设定数值比较，当大于设定数值时，计数值累加，得到一个块中原始错误比特数大于某个数值的总页数；

所述进阶数据中一个块中某些特征页的编程时间集合的获取方式为：将一个块所有页的编程时间绘图，与模型库中对比，选择出特征页，并将这些特征页的编程时间以集合形式记录下来。

3.根据权利要求1所述一种不同封装闪存芯片在线测试和分类方法，其特征在于，所述步骤1包括以下子步骤：

步骤1.1、根据测试需要，测试闪存芯片所有块或挑选的N个块，将测试闪存芯片与测试系统连接；

步骤1.2、根据闪存测试芯片选择测试图形，以块为单位依次对闪存存储块进行测试；

步骤1.3、将测试物理量数据记录并存储。

4.根据权利要求1所述一种不同封装闪存芯片在线测试和分类方法，其特征在于，步骤3.1中所述的主要参数、次要参数以及等级划分范围结合闪存可靠性研究相关数据和结论进行选择和设计。