[发明专利]一种不同封装闪存芯片在线测试和分类方法及测试系统

说明书

本发明涉及一种不同封装闪存芯片在线测试和分类方法及测试系统，该方法包括将测试芯片与测试系统连接，以块为单位选择该测试芯片所要测试的块，并根据闪存芯片的封装不同，选择相应的测试图形测试闪存芯片物理量信息，并将测试数据实时保存；利用寿命预测算法，根据闪存芯片物理量信息预测闪存芯片的剩余寿命；对所述闪存芯片物理量信息进行处理获得进阶数据；根据闪存芯片物理量信息、剩余寿命、进阶数据，单独或者组合判断筛选闪存芯片，对闪存芯片进行分类。通过本发明，针对不同类型的闪存芯片，采用相应测试图形(pattern)进行测试，实现对不同封装、不同型号的闪存芯片的测试；且通过对闪存芯片存储块进行分级，根据存储块的分级实现对闪存芯片的分级，获得更准确，更贴合实际数据的闪存芯片分类方法。

技术领域

本发明涉及闪存芯片可靠性测试技术，尤其是涉及一种不同封装闪存芯片在线测试和分类方法及测试系统。

背景技术

在现在计算机体系架构中存储器是重要的一环，用来存储程序与数据。主流存储器可以分为两大类：易失性存储器和非易失性存储器。其中，易失性存储设备在掉电后失去所有存储的数据，故易失性存储设备常用于作为缓存；非易失性存储设备在掉电后能够长期存储数据，则常用于存储数据资料。在非易失性存储设备中，闪存存储器件以数据传输速度快、制造成本低、数据存储容量大等优点，被广泛应用于电子设备领域之中。闪存存储器件的需求量也逐年上升。

目前，由于半导体工艺水平的提高，闪存芯片器件尺寸不断缩小，同时氧化层厚度也随之减小。这意味着闪存的隧道氧化层相较于之前更容易出现缺陷和发生电荷泄露，闪存器件寿命(P/E周期)大幅缩短，需要的纠错码强度大幅提高。因此现阶段闪存器件可靠性是当前存储技术发展的首要问题。同时市场上有各种不同封装的闪存芯片，质量和使用情况不同，急需有效的测试方法筛选出不同状态的闪存芯片供各种不同需求的人群使用。而现如今市场上并没有一种有效的闪存芯片测试方法，亦或是对不同封装、不同型号兼容性不强。闪存芯片的分类方法目前还是空白。

发明内容

本发明针对现有技术中存在的技术问题，提供一种不同封装闪存芯片在线测试和分类方法及测试系统。

本发明解决上述技术问题的技术方案如下：

一方面，本发明提供一种不同封装闪存芯片在线测试和分类方法，包括以下步骤：

步骤1，将测试芯片与测试系统连接，以块为单位选择该测试芯片所要测试的块，并根据闪存芯片的封装不同，选择相应的测试图形测试闪存芯片物理量信息，并将测试数据实时保存；

步骤2，利用寿命预测算法，根据闪存芯片物理量信息预测闪存芯片的剩余寿命；对所述闪存芯片物理量信息进行处理获得进阶数据；

步骤3，根据闪存芯片物理量信息、剩余寿命、进阶数据，单独或者组合判断筛选闪存芯片，对闪存芯片进行分类；

其中所述的闪存芯片物理量信息包括闪存芯片存储块进行一次操作的编程时间、读取时间、擦除时间、电流、原始错误比特数；所述的进阶数据包括，一个块中原始错误比特数大于某个数值的总页数、一个块中某些特征页的编程时间集合。

进一步，

所述编程时间的获取方式为：在闪存测试系统中设置编程时间记录模块；编程时间记录模块在闪存芯片开始写入数据操作的同时记录经过的时钟周期，在收到闪存芯片返回数据编程完成标志后停止记录时钟周期数；编程时间值为时钟周期持续时间乘以编程时钟周期数；

所述读取时间获取方式为：由测试系统中的读取时间记录模块记录读取操作持续的时钟周期数，读取时间值为时钟周期持续时间乘以读取时钟周期数；

所述擦除时间的获取方式为：由测试系统中的擦除时间记录模块记录擦除操作持续的时钟周期数，擦除时间值为时钟周期持续时间乘以擦除时钟周期数；