[发明专利]一种基于频控阵的S形干扰波束测试方法有效
申请号: | 201810513556.9 | 申请日: | 2018-05-25 |
公开(公告)号: | CN108761414B | 公开(公告)日: | 2022-05-20 |
发明(设计)人: | 陈慧;贾文凯;胡全;王文钦;邵怀宗;潘晔;廖轶 | 申请(专利权)人: | 电子科技大学 |
主分类号: | G01S7/41 | 分类号: | G01S7/41;G01S7/36;G01S7/40 |
代理公司: | 北京正华智诚专利代理事务所(普通合伙) 11870 | 代理人: | 李梦蝶 |
地址: | 611731 四川省成*** | 国省代码: | 四川;51 |
权利要求书: | 查看更多 | 说明书: | 查看更多 |
摘要: | |||
搜索关键词: | 一种 基于 频控阵 干扰 波束 测试 方法 | ||
1.一种基于频控阵的S形干扰波束测试方法,其特征在于,包括如下步骤:
S1:选择测试接收点:根据频控阵雷达发射机的预设S形干扰波束在空间中的分布位置,选择雷达测试接收机的安放位置点,即为测试接收点;
S2:接收发射信号数据:使频控阵雷达发射机开始发射信号,并使各测试接收点接收经过该测试接收点的至少一个预设发射周期的所有发射信号数据;
S3:确定测试数据:根据接收到的发射信号数据,确定各测试接收点的测试数据;
S4:拟合S形干扰波束:根据各测试接收点的空间位置和测试数据,进行频控阵二维波束图的绘制,即拟合出S形干扰波束;
其中,所述步骤S1中,预设S形干扰波束由三段波束构成;
其中,所述步骤S2中,接收到的信号幅度的计算公式为:
p(r,θ,t)=[p1(r,θ,tp1)p2(r,θ,tp2)p3(r,θ,tp3)]
式中,p(r,θ,t)为接收信号的幅度;p1(r,θ,tp1)为第1段S形波束对应发射信号经过测试接收点时的信号幅度;p2(r,θ,tp2)为第2段S形波束对应发射信号经过测试接收点时的信号幅度;p3(r,θ,tp3)为第3段S形波束对应发射信号经过测试接收点时的信号幅度;
第i段S形波束对应发射信号经过测试接收点时的信号幅度的计算公式为:
式中,pi(ri,θi,tpi)为第i段S形波束对应发射信号经过测试接收点时的信号幅度;N为阵元数;n为阵元索引;c为电磁波空间传播速度;f0为初始载频;Δfi为第i段干扰波束对应的频率增量;r为测试点相应的径向距离;θ为测试点相应的的方位角;tpi为第i段S形波束的信号传递时间;为第i段S形干扰波束对应的附加相位增量;j为虚部;d为阵元间距。
2.根据权利要求1所述的基于频控阵的S形干扰波束测试方法,其特征在于,所述步骤S2中,预设发射周期的计算公式为:
式中,T为预设发射周期;ri为第i段波束的径向距离;c为电磁波空间传播速度。
3.根据权利要求1所述的基于频控阵的S形干扰波束测试方法,其特征在于,所述步骤S3中,确定测试数据的方法,包括以下步骤:
S3-1:确定测试接收点:选择距离发射机最远的测试接收点作为参考测试接收点,将参考测试接收点在接收到一个预设发射周期的发射信号数据的第一时刻作为测试时刻;
S3-2:确定测试时刻:根据其它测试接收点与参考测试接收点的距离确定时延信息,并根据时延信息确定对应的测试时刻;
S3-3:得到测试数据:将各测试接收点在对应的测试时刻接收的发射信号数据作为测试数据。
4.根据权利要求3所述的基于频控阵的S形干扰波束测试方法,其特征在于,所述步骤S3-2中,时延的计算公式为:
τ=(R0-r0)/c
式中,τ为时延;R0为参考测试接收点的径向距离;r0为测试接收点的径向距离,c为电磁波空间传播速度。
该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息,商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于电子科技大学,未经电子科技大学许可,擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作,请联系【客服】
本文链接:http://www.vipzhuanli.com/pat/books/201810513556.9/1.html,转载请声明来源钻瓜专利网。