[发明专利]一种基于频控阵的S形干扰波束测试方法

说明书

本发明公开了一种基于频控阵的S形干扰波束测试方法，包括如下步骤：S1、根据频控阵雷达发射机的预设S形干扰波束在空间中的分布位置，选择雷达测试接收机的安放位置点，即为测试接收点；S2、使频控阵雷达发射机开始发射信号，并使各测试接收点接收经过该测试接收点的至少一个预设发射周期的所有发射信号数据；S3、根据接收到的发射信号数据，确定各测试接收点的测试数据；S4、根据各测试接收点的空间位置和测试数据，进行频控阵二维波束图的绘制，即拟合出S形干扰波束。本发明解决了现有技术存在的实用性低、隐蔽性低、测试效率低、实施成本昂贵和资金投入大的问题。

技术领域

本发明属于雷达天线技术领域，具体涉及一种基于频控阵的S形干扰波束测试方法。

背景技术

频控阵雷达作为一种新型的雷达技术，其将频率分集思想应用于阵列天线，通过增加各天线频偏获得与距离、角度和时间三者相关的波束图，即针对固定时刻的频控阵波束方向图具有距离和角度依赖性。传统的相控阵波束无法对无规则分布的多目标实施精准干扰，通过利用频控阵二维波束图的距离依赖性特点，合成的特定形干扰波束可用于同时对多目标进行干扰。

现有的雷达波束测试通常是针对单体天线部件而言，常规测试方法是将待测雷达天线阵元安装到接收转台上，通过精确改变天线在空间的机械指向并调整天线有转轴的相对位置，使其相位中心尽可能的接近测试转台的旋转轴来获得波束能量数据实现测试，其要求被测雷达天线阵元必须提供馈线接口，然而对于多数雷达，其结构紧凑且无对外馈线接口，天线、发射机与接收机被封装到一起，强拆将会影响雷达的整体性能。因而对现有雷达波束测试，整体在线测试方法尤其重要，且这些测试方法通常需要如场强仪和精密的转台系统等的硬件设备支持，实施成本昂贵。

综上所述，现有技术存在以下问题：

(1)传统的相控阵波束无法对无规则分布的多目标实施精准干扰，实用性低；

(2)传统的相控阵波束在采用测角技术容易发现发射机的位置，隐蔽性低；

(3)现有测试方法对现有雷达波束测试时，需要设定参数与硬件设备要求，测试效率低；

(4)现有测试方法通常需要场强仪和精密的转台系统等的硬件设备支持，实施成本昂贵，资金投入大。

发明内容

针对现有技术中的上述不足，本发明提供一种实用性高、隐蔽性高、测试效率高和节约资金投入的基于频控阵的S形干扰波束测试方法，解决了现有技术存在的无法对无规则分布的多目标实施精准干扰导致的实用性低、容易发现发射机的位置导致的隐蔽性低、测试效率低、实施成本昂贵和资金投入大的问题。

为了达到上述发明目的，本发明采用的技术方案为：

一种基于频控阵的S形干扰波束测试方法，包括如下步骤：

S1：选择测试接收点：根据频控阵雷达发射机的预设S形干扰波束在空间中的分布位置，选择雷达测试接收机的安放位置点，即为测试接收点；

S2：接收发射信号数据：使频控阵雷达发射机开始发射信号，并使各测试接收点接收经过该测试接收点的至少一个预设发射周期的所有发射信号数据；

S3：确定测试数据：根据接收到的发射信号数据，确定各测试接收点的测试数据；

S4：拟合S形干扰波束：根据各测试接收点的空间位置和测试数据，进行频控阵二维波束图的绘制，即拟合出S形干扰波束。

进一步地，步骤S1中，预设S形干扰波束由三段波束构成。

进一步地，步骤S2中，接收到的信号幅度的计算公式为：