[发明专利]一种材料毫米波辐射特性的室内测量装置与测量方法

权利要求书

1.一种材料毫米波辐射特性的室内测量装置，其特征在于：包括屏蔽暗箱、屏蔽窗、金属板、待测材料夹具、吸波材料、待测材料、毫米波辐射计和标准噪声源；所述屏蔽暗箱垂直固定在室内水平地面上，箱体内部铺满吸波材料，一侧放置毫米波辐射计，靠近毫米波辐射计的箱体侧面敞开；所述屏蔽窗固定并完全覆盖在暗箱的顶面，以顶面中线为界分为左侧屏蔽窗和右侧屏蔽窗，并通过把手实现开合，屏蔽窗位于暗箱内的侧面铺满吸波材料；所述金属板与暗箱底面呈45度夹角，且位于左侧屏蔽窗的正下方位置；所述待测材料夹具固定于右侧屏蔽窗的正下方位置，并与金属板保持平行，用于固定双层待测材料；所述标准噪声源放置于屏蔽箱中心位置的正上方位置。

2.根据权利要求1所述的材料毫米波辐射特性的室内测量装置，其特征在于：所述金属板宽度与屏蔽暗箱的宽度一致，金属板一宽边固定在左侧屏蔽窗的左侧宽边处，另一宽边固定在暗箱的底面中线处。

3.根据权利要求1所述的材料毫米波辐射特性的室内测量装置，其特征在于：所述毫米波辐射计固定在三脚架上，并保证辐射计天线中心与待测夹具平面中心处在同一水平线。

4.采用权利要求1所述的材料毫米波辐射特性的室内测量装置进行室内测量的方法，其特征在于：包括以下步骤：

步骤1、利用毫米波辐射计分别对标准噪声源、吸波材料进行直接观测，得到对应的输出电压数据；

步骤2、将屏蔽暗箱上方的两个屏蔽窗同时关闭，利用毫米波辐射计对双层待测材料进行观测，得到对应的输出电压数据；

步骤3、打开屏蔽暗箱左上方的屏蔽窗，利用毫米波辐射计对双层待测材料进行观测，得到对应的输出电压数据；

步骤4、关闭屏蔽暗箱左上方的屏蔽窗，打开屏蔽暗箱右上方的屏蔽窗，利用毫米波辐射计对双层待测材料进行观测，得到对应的输出电压数据；

步骤5、同时打开屏蔽暗箱上方的两个屏蔽窗，利用毫米波辐射计对双层待测材料进行观测，得到对应的输出电压数据；

步骤6、对上述步骤中得到的辐射计电压数据进行处理，得到材料的辐射率、反射率及透射率。

5.根据权利要求4所述的室内测量的方法，其特征在于：步骤1利用毫米波辐射计分别对标准噪声源、吸波材料进行直接观测得到的电压为U_s、U_abs，假设标准噪声源与吸波材料的亮温分别为T_s、T_abs；考虑到毫米波辐射计的输出电压与观测目标亮温呈线性关系，即：

U_A＝CT_A+β (1)

式中，U_A是辐射计输出电压，C是辐射计接收机定标系数，T_A是辐射计观测目标亮温。

因此

U_s＝CT_s+β (2)

U_abs＝CT_abs+β (3) 。