[发明专利]一种材料毫米波辐射特性的室内测量装置与测量方法

说明书

本发明涉及一种材料毫米波辐射特性的室内测量装置与测量方法，包括屏蔽暗箱、屏蔽窗、金属板、待测材料夹具、吸波材料、待测材料、毫米波辐射计和标准噪声源。测量时，毫米波辐射计天线分别对准吸波材料、待测材料和标准噪声源进行观测，利用本发明公开的测量方法对观测数据进行处理得到材料的毫米波辐射特性。本发明测量装置具有测量方便精度高，测量方便等特点，适应极端情况下，无需要求在暗室中进行操作，也不受外界天气环境因素的影响，显著降低了对测量环境和测量设备的要求，具有成本低、操作简单、测量精度高的优点。

技术领域

本发明涉及一种材料毫米波辐射特性测量方法，特别是用于室内工作的材料毫米波辐射特性测量装置的测量方法。

背景技术

毫米波被动成像系统利用目标之间的辐射特性差异实现场景与人体成像，掌握衣物、陶瓷刀等一些常用材料的毫米波辐射特性对于成像系统及隐匿违禁物品检测算法设计具有非常重要的作用。此外，隐身材料在武器装备中有着广泛的应用，隐身材料的毫米波辐射特性对分析材料的隐身特性具有重要意义。

发明专利“一种材料毫米波辐射特性的室内测量装置及测量方法”介绍了一种用于测量材料毫米波辐射特性的测量装置。该装置包括屏蔽暗箱，屏蔽窗，金属板，待测材料夹具，吸波材料，待测材料，毫米波辐射计，标准噪声源。测量时，毫米波辐射计天线分别对准吸波材料、待测材料和标准噪声源进行观测，利用该专利公开的测量方法对观测数据进行处理得到材料的毫米波辐射特性。该方法通过测量单层待测材料实现材料毫米波辐射特性测量，当材料具有极端毫米波辐射特性时(辐射率很大或者很小)，该方法具有较大的误差，无法满足极端辐射特性材料的测量精度要求。

发明内容

本发明的目的是提供一种材料毫米波辐射特性的室内测量装置与测量方法，满足极端辐射特性材料测量精度高的要求。

为实现上述目的，本发明提供的技术方案是：

一种材料毫米波辐射特性的室内测量装置，包括屏蔽暗箱、屏蔽窗、金属板、待测材料夹具、吸波材料、待测材料、毫米波辐射计和标准噪声源；所述屏蔽暗箱垂直固定在室内水平地面上，箱体内部铺满吸波材料，一侧放置毫米波辐射计，靠近毫米波辐射计的箱体侧面敞开；所述屏蔽窗固定并完全覆盖在暗箱的顶面，以顶面中线为界分为左侧屏蔽窗和右侧屏蔽窗，并通过把手实现开合，屏蔽窗位于暗箱内的侧面铺满吸波材料；所述金属板与暗箱底面呈45度夹角，且位于左侧屏蔽窗的正下方位置；所述待测材料夹具固定于右侧屏蔽窗的正下方位置，并与金属板保持平行，用于固定双层待测材料；所述标准噪声源放置于屏蔽箱中心位置的正上方位置。

进一步的，所述金属板宽度与屏蔽暗箱的宽度一致，金属板一宽边固定在左侧屏蔽窗的左侧宽边处，另一宽边固定在暗箱的底面中线处。

进一步的，所述毫米波辐射计固定在三脚架上，并保证辐射计天线中心与待测夹具平面中心处在同一水平线。

本发明还公布采用所述的材料毫米波辐射特性的室内测量装置进行室内测量的方法，包括以下步骤：

步骤1、利用毫米波辐射计分别对标准噪声源、吸波材料进行直接观测，得到对应的输出电压数据；

步骤2、将屏蔽暗箱上方的两个屏蔽窗同时关闭，利用毫米波辐射计对双层待测材料进行观测，得到对应的输出电压数据；

步骤3、打开屏蔽暗箱左上方的屏蔽窗，利用毫米波辐射计对双层待测材料进行观测，得到对应的输出电压数据；

步骤4、关闭屏蔽暗箱左上方的屏蔽窗，打开屏蔽暗箱右上方的屏蔽窗，利用毫米波辐射计对双层待测材料进行观测，得到对应的输出电压数据；

步骤5、同时打开屏蔽暗箱上方的两个屏蔽窗，利用毫米波辐射计对双层待测材料进行观测，得到对应的输出电压数据；

步骤6、对上述步骤中得到的辐射计电压数据进行处理，得到材料的辐射率、反射率及透射率。