[发明专利]一种显示装置及该显示装置的薄膜晶体管的修补检测方法有效
申请号: | 201810516614.3 | 申请日: | 2018-05-25 |
公开(公告)号: | CN108598094B | 公开(公告)日: | 2020-09-11 |
发明(设计)人: | 何孟修 | 申请(专利权)人: | 友达光电(昆山)有限公司 |
主分类号: | H01L27/12 | 分类号: | H01L27/12;H01L21/66 |
代理公司: | 北京市立康律师事务所 11805 | 代理人: | 梁挥;孟超 |
地址: | 215300 江苏*** | 国省代码: | 江苏;32 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 一种 显示装置 薄膜晶体管 修补 检测 方法 | ||
1.一种显示装置,包含:
多个薄膜晶体管,每一该些薄膜晶体管具有一闸极电极、一源极电极与一汲极电极;
一闸极线,耦接于其一的该些薄膜晶体管的该闸极电极;
一数据线,耦接于其一的该些薄膜晶体管的该汲极电极或该源极电极,其特征在于,更包含一修补检测电路,其包含:
一第一检测垫;
一第二检测垫;
一第三检测垫;
一第一检测金属线,连接于该第二检测垫;
一第二检测金属线,具有一第一支线、一检测金属垫与一第二支线,该第一支线连接该第一检测垫与该检测金属垫,该第二支线连接该第三检测垫与该检测金属垫,且该检测金属垫与该第一检测金属线于一垂直方向上有重叠区域;
其中,该第一检测金属线的宽度与该闸极线的宽度相同,且该检测金属垫的宽度与该数据线的宽度相同。
2.根据权利要求1所述的显示装置,其特征在于,该第一检测金属线与该闸极线的材料相同,且该检测金属垫与该数据线的材料相同。
3.根据权利要求1所述的显示装置,其特征在于,该第一检测金属线与该闸极线为同一道光罩而制成,且该检测金属垫与该数据线为同一道光罩而制成。
4.根据权利要求1所述的显示装置,其特征在于,该检测金属垫具有一开口。
5.一种显示装置,包含:
一基板;
一第一金属层,设置于该基板;
一绝缘层,设置于该第一金属层;
一第二金属层,设置于该绝缘层,使得该绝缘层位于该第一金属层与该第二金属层之间;以及
一薄膜晶体管,包含一闸极电极、一源极电极与一汲极电极,该闸极电极形成于该第一金属层,该源极电极与该汲极电极分别形成于该第二金属层,其特征在于,该显示装置更包含一修补检测电路,其包括:
一第一检测垫,设置于该基板;
一第二检测垫,设置于该基板;
一第三检测垫,设置于该基板;
一第一检测金属线,形成于该第一金属层,其中该第一检测金属线与该第二检测垫电连接,该第一检测金属线与该闸极电极为彼此绝缘结构;
一第二检测金属线,形成于该第二金属层,其中该第二检测金属线分别与该第一检测垫、该第三检测垫电连接,该第二检测金属线与该源极电极、该汲极电极为彼此绝缘结构,
其中,该第二检测金属线与该第一检测金属线具有一交叉部。
6.根据权利要求5所述的显示装置,其特征在于,更包含一闸极线,耦接于该闸极电极,且该闸极线的宽度与该第一检测金属线的宽度相同。
7.根据权利要求5所述的显示装置,其特征在于,更包含一数据线,藕接于该汲极电极或源极电极,且该数据线的宽度与该第二检测金属线的该交叉部的宽度相同。
8.根据权利要求7所述的显示装置,其特征在于,该第二检测金属线具有一第一支线、一检测金属垫与一第二支线,该第一支线连接该第一检测垫与该检测金属垫,该第二支线连接该第三检测垫与该检测金属垫,且该检测金属垫位于该交叉部。
9.根据权利要求5所述的显示装置,其特征在于,该基板具有相邻的一显示区与一周边区,该薄膜晶体管设置于该显示区,而该修补检测电路设置于该周边区。
10.根据权利要求5所述的显示装置,其特征在于,于该交叉部,该第二检测金属线具有一开口。
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H01L 半导体器件;其他类目中不包括的电固体器件
H01L27-00 由在一个共用衬底内或其上形成的多个半导体或其他固态组件组成的器件
H01L27-01 .只包括有在一公共绝缘衬底上形成的无源薄膜或厚膜元件的器件
H01L27-02 .包括有专门适用于整流、振荡、放大或切换的半导体组件并且至少有一个电位跃变势垒或者表面势垒的;包括至少有一个跃变势垒或者表面势垒的无源集成电路单元的
H01L27-14 . 包括有对红外辐射、光、较短波长的电磁辐射或者微粒子辐射并且专门适用于把这样的辐射能转换为电能的,或适用于通过这样的辐射控制电能的半导体组件的
H01L27-15 .包括专门适用于光发射并且包括至少有一个电位跃变势垒或者表面势垒的半导体组件
H01L27-16 .包括含有或不含有不同材料结点的热电元件的;包括有热磁组件的