[发明专利]通用半导体高速串行信号自动测试方法

权利要求书

1.一种通用半导体高速串行信号自动测试方法，其特征在于，采集测试芯片输出的高速串行信号，控制单元输出芯片控制信号到被测芯片，被测芯片发出高速串行信号，高速串行信号首次进入阻抗匹配单元，通过阻抗匹配使得整条信号通过进入移相单元，然后通过移相单元使高速串行信号的相位依次按照设定的固定的分辨率进行变换，每次偏移相位的大小由控制单元输出的移相控制信号及移相单元的分辨率决定，经过移相单元后的高速串行信号再通过阻抗匹配单元保持通路阻抗匹配，信号进入采集单元，在控制单元发出的采集控制信号作用下被采集，控制单元与半导体自动测试设备信号交互，采集单元将采集到的信号传回通用半导体自动测试设备经其算法运算后，解析得到实际高速串行信号传输的数据码流；

所述移相单元由n+1个相位器和对应的n+1个控制位组成，n+1个相位器的相位偏移分别为θ*2ⁱ，i＝0、1、2、3、…n，θ*2ⁿ＝180°,控制单元输出的移相控制信号施加到各个控制位，使不同的控制位分别控制继电器开关切换到不同位置，使n+1个相位器以不同的组合方式进入相位偏移，每个高速串行信号经过阻抗匹配单元后进入移相单元后，移相单元输出信号相对于输入信号实现相应的相位偏移。

2.根据权利要求1所述通用半导体高速串行信号自动测试方法，其特征在于，所述采集单元接收不同相位偏移的高速串行信号，每次相位偏移后采集单元按采集单元采集速率采集，相当于在固定的数个不同的采样点分别采样高速串行信号。