[发明专利]一种盲元检测方法、装置及电子设备

权利要求书

1.一种盲元检测方法，其特征在于，包括：

获得关于辅助对象的多帧目标图像；其中，任一帧目标图像为：在一预定环境温度下，红外热成像设备的红外焦平面阵列所感应的关于所述辅助对象的数据，且不同帧目标图像对应不同的预定环境温度；

基于所获得的目标图像，计算所述红外焦平面阵列所对应的参考数据；其中，所述参考数据用于表征：不同预定环境温度下，所述红外焦平面阵列中的像元所感应像素数据的差异关系；

基于所述红外焦平面阵列所对应的参考数据，确定所述红外焦平面阵列中的盲元。

2.根据权利要求1所述的盲元检测方法，其特征在于，所述基于所获得的目标图像，计算所述红外焦平面阵列所对应的参考数据的步骤，包括：

从所获得的多帧目标图像中，按照预定帧顺序提取同一像元所对应的像素数据，并利用所提取的像素数据，生成所述红外焦平面阵列中各个像元对应的向量；

将各个像元对应的向量和各个预定环境温度进行多项式拟合，得到各个像元对应的拟合函数。

3.根据权利要求2所述的盲元检测方法，其特征在于，所述基于所述红外焦平面阵列所对应的参考数据，确定所述红外焦平面阵列中的盲元的步骤，包括：

从各个像元对应的拟合函数中，提取各个像元对应的拟合参数集；

以各个像元对应的拟合参数集中的至少一类参数，生成与所述红外焦平面阵列的分辨率大小匹配的至少一个系数矩阵；其中，各个像元对应的拟合参数集中的同一类参数作为同一系数矩阵中的元素；

基于所述至少一个系数矩阵和各个像元对应的所述至少一个系数矩阵的矩阵元素，得到所述红外焦平面阵列中的盲元。

4.根据权利要求3所述的盲元检测方法，其特征在于，所述基于所述至少一个系数矩阵和各个像元对应的所述至少一个系数矩阵的矩阵元素，得到所述红外焦平面阵列中的盲元的步骤，包括：

计算各个系数矩阵的全局均值和全局标准差；

针对每一系数矩阵，按照第一预定计算方式，确定所述红外焦平面阵列中的盲元；

其中，所述第一预定计算方式包括：针对每一像元，计算该像元对应的关于该系数矩阵的矩阵元素与该系数矩阵的全局均值的第一差值，并判断所述第一差值是否大于该系数矩阵的全局标准差的第一预定倍数，如果大于，确定该像元为盲元。

5.根据权利要求3所述的盲元检测方法，其特征在于，所述基于所述至少一个系数矩阵和各个像元对应的所述至少一个系数矩阵的矩阵元素，得到所述红外焦平面阵列中的盲元的步骤，包括：

对各个系数矩阵分区计算均值和标准差，得到各个系数矩阵的局部均值和局部标准差；

针对每一系数矩阵，按照第二预定计算方式，确定所述红外焦平面阵列中的盲元；

其中，所述第二预定计算方式，包括：

针对每一像元，计算该像元对应的关于该系数矩阵的矩阵元素与该系数矩阵的目标局部均值的第二差值，并判断所述第二差值是否大于该系数矩阵的目标局部标准差的第二预定倍数，如果大于，确定该像元为盲元；

其中，所述目标局部均值为：所对应矩阵区域包括该像元对应的矩阵元素的局部均值，所述目标局部标准差为：所对应矩阵区域包括该像元对应的矩阵元素的局部标准差。

6.一种盲元检测装置，其特征在于，包括：

目标图像获得单元，用于获得关于辅助对象的多帧目标图像；其中，任一帧目标图像为：在一预定环境温度下，红外热成像设备的红外焦平面阵列所感应的关于所述辅助对象的数据，且不同帧目标图像对应不同的预定环境温度；

参考数据计算单元，用于基于所获得的目标图像，计算所述红外焦平面阵列所对应的参考数据；其中，所述参考数据用于表征：不同预定环境温度下，所述红外焦平面阵列中的像元所感应像素数据的差异关系；

盲元确定单元，用于基于所述红外焦平面阵列所对应的参考数据，确定所述红外焦平面阵列中的盲元。