[发明专利]一种盲元检测方法、装置及电子设备

说明书

本申请实施例提供了一种盲元检测方法、装置及电子设备。该盲元检测方法包括：获得关于辅助对象的多帧目标图像；其中，任一帧目标图像为：在一预定环境温度下，红外焦平面阵列所感应的关于所述辅助对象的数据，且不同帧目标图像对应不同的预定环境温度；基于所获得的目标图像，计算所述红外焦平面阵列所对应的参考数据；其中，所述参考数据用于表征：不同预定环境温度下，所述红外焦平面阵列中的像元所感应像素数据的差异关系；基于所述红外焦平面阵列所对应的参考数据，确定所述红外焦平面阵列中的盲元。通过本方案可以快速有效地检测红外焦平面阵列在不同温度环境下所表现出的盲元。

技术领域

本申请涉及红外热成像技术领域，特别是涉及一种盲元检测方法、装置及电子设备。

背景技术

受制造工艺、材料等因素的影响，红外热成像设备中的红外焦平面阵列均不可避免地存在盲元、非均匀性等问题。由于盲元的存在会影响后期的图像处理算法及视觉效果，因此需要对红外焦平面阵列中的盲元进行检测，从而后续执行去盲元处理。其中，盲元包括死像元与过热像元，根据国标GB/T17444-1998中的规定，死像元为响应率低于平均响应率1/10的像元，过热像元为响应率高于平均响应率10倍的像元。

并且，对于无温控的红外焦平面阵列而言，不同环境温度下像元的响应率的变化对盲元有很大影响，即，在一种环境温度下响应率处于正常范围的像元，在其他环境温度下可能响应率变为处于不正常范围，成为新的盲元。

因此，如何快速有效地检测红外焦平面阵列在不同温度环境下所表现出的盲元，是一个亟待解决的问题。

发明内容

本申请实施例的目的在于提供一种盲元检测方法、装置及电子设备，以快速有效地检测红外焦平面阵列在不同温度环境下所表现出的盲元。具体技术方案如下：

第一方面，本申请实施例提供了一种盲元检测方法，包括：

获得关于辅助对象的多帧目标图像；其中，任一帧目标图像为：在一预定环境温度下，红外热成像设备的红外焦平面阵列所感应的关于所述辅助对象的数据，且不同帧目标图像对应不同的预定环境温度；

基于所获得的目标图像，计算所述红外焦平面阵列所对应的参考数据；其中，所述参考数据用于表征：不同预定环境温度下，所述红外焦平面阵列中的像元所感应像素数据的差异关系；

基于所述红外焦平面阵列所对应的参考数据，确定所述红外焦平面阵列中的盲元。

可选地，所述基于所获得的目标图像，计算所述红外焦平面阵列所对应的参考数据的步骤，包括：

从所获得的多帧目标图像中，按照预定帧顺序提取同一像元所对应的像素数据，并利用所提取的像素数据，生成所述红外焦平面阵列中各个像元对应的向量；

将各个像元对应的向量和各个预定环境温度进行多项式拟合，得到各个像元对应的拟合函数。

可选地，所述基于所述红外焦平面阵列所对应的参考数据，确定所述红外焦平面阵列中的盲元的步骤，包括：

从各个像元对应的拟合函数中，提取各个像元对应的拟合参数集；

以各个像元对应的拟合参数集中的至少一类参数，生成与所述红外焦平面阵列的分辨率大小匹配的至少一个系数矩阵；其中，各个像元对应的拟合参数集中的同一类参数作为同一系数矩阵中的元素；

基于所述至少一个系数矩阵和各个像元对应的所述至少一个系数矩阵的矩阵元素，得到所述红外焦平面阵列中的盲元。

可选地，所述基于所述至少一个系数矩阵和各个像元对应的所述至少一个系数矩阵的矩阵元素，得到所述红外焦平面阵列中的盲元的步骤，包括：

计算各个系数矩阵的全局均值和全局标准差；