[发明专利]一种晶圆片光刻工艺有效
申请号: | 201810534838.7 | 申请日: | 2018-05-29 |
公开(公告)号: | CN108648991B | 公开(公告)日: | 2020-11-13 |
发明(设计)人: | 侯玉闯;薛鹏 | 申请(专利权)人: | 徐州诚凯知识产权服务有限公司 |
主分类号: | H01L21/027 | 分类号: | H01L21/027;G03F7/16 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 一种 晶圆片 光刻 工艺 | ||
本发明属于晶圆片光刻技术领域,具体说是一种晶圆片光刻工艺,该工艺采用的光刻机用晶圆片匀胶装置包括固定框、基座、水平调节装置、固定支架、旋转装置、真空吸盘、真空发生器、可调节弹簧和感应装置;所述基座位于固定框上部;所述水平调节装置固定在固定框内;所述固定支架安装在基座上方;所述旋转装置安装在固定支架上;所属真空吸盘位于旋转装置上方;所述真空发生器位于真空吸盘右下方,真空发生器与真空吸盘相连通;所述可调节弹簧数量为三,可调节弹簧之间呈120°分布,可调节弹簧位于基座与固定框之间;所述感应装置位于固定框上方;本装置可以有效保证晶圆片水平固定在真空吸盘上,从而保证晶圆片表面涂覆胶的厚度均匀。
技术领域
本发明属于晶圆片光刻技术领域,具体说是一种晶圆片光刻工艺。
背景技术
光刻技术广泛应用于微加工领域,可以实现高效精确的模板复印,是半导体集成电路制作的重要过程。光刻技术的发展直接影响着微电子工艺的纳米尺度,是精密的微细加工技术。光刻工艺总共包括晶圆片匀胶(即涂覆胶层)、曝光、显影、坚膜、腐蚀、去胶等步骤。其中晶圆片表面涂覆胶的厚度直接影响后面光刻步骤的进行,对光刻工艺来说尤为重要,而传统的的匀胶装置并不能保证晶圆片表面涂覆胶的厚度均匀。
鉴于此,本发明所述的一种晶圆片光刻工艺,能够保证晶圆片表面涂覆胶的厚度均匀,保证光刻产品的质量,提高成品的合格率。
发明内容
为了弥补现有技术的不足,本发明提出了一种晶圆片光刻工艺,本发明主要用于实现晶圆片的光刻。本工艺采用的光刻机用晶圆片匀胶装置通过真空吸盘、真空发生器、水平调节装置、感应装置、旋转装置和可调节弹簧的相互配合能够保证晶圆片的水平放置,从而保证晶圆片表面涂覆胶厚度均匀。
本发明解决其技术问题所采用的技术方案是:本发明所述的一种晶圆片光刻工艺,该光刻工艺包括如下步骤:
步骤一:将准备好的晶圆片固定在光刻机用晶圆片匀胶装置上进行匀胶处理;
步骤二:步骤一中匀胶结束后,取出晶圆片,将涂好胶的晶圆片通过光刻机的对位系统和光刻版套准后,用紫外线对晶圆片进行曝光处理;
步骤三:步骤二中曝光结束后,用显影液取出已曝光部分的光刻胶,在晶圆片上形成所需的图形;
步骤四:步骤三中显影结束后,将晶圆片通过红外线辐射加热法烘干,以提高光刻胶粘附性和抗腐蚀能力;
步骤五:步骤四中晶圆片烘干后,通过干刻蚀法对晶圆片进行刻蚀;
步骤六:步骤五中晶圆片刻蚀完成后,通过干法去胶将晶圆片表面的光刻胶除去;
其中步骤一所述的光刻机用晶圆片匀胶装置包括固定框、基座、水平调节装置、固定支架、旋转装置、真空吸盘、真空发生器、可调节弹簧和感应装置;所述基座位于固定框上部,基座用于安装固定支架;所述水平调节装置固定在固定框内,水平调节装置用于调节基座的水平;所述固定支架安装在基座上方,固定支架用于安装旋转装置;所述旋转装置安装在固定支架上,旋转装置用于带动真空吸盘旋转;所属真空吸盘位于旋转装置上方,真空吸盘用于固定晶圆;所述真空发生器位于真空吸盘右下方,真空发生器与真空吸盘相连通,真空发生器用于为真空吸盘提供真空条件;所述可调节弹簧数量为三,可调节弹簧之间呈120°分布,可调节弹簧位于基座与固定框之间,可调节弹簧上端与基座底端相连,可调节弹簧下端与固定框顶部相连,可调节弹簧用于固定基座,同时可调节弹簧还用于调节基座的水平;所述感应装置位于固定框上方,感应装置包括固定杆和感应器,感应装置用于判断基座是否水平;所述固定杆数量为二,固定杆左右对称放置在基座两侧,固定杆用于固定感应器;所述感应器固定在固定杆上,感应器用于判断基座是否水平。
所述真空吸盘内设有中空腔,且真空吸盘上表面设有若干与中空腔相连接的吸孔,中空腔还与真空发生器相连通。工作时,晶圆放置在真空吸盘上,真空发生器为中空腔提供真空条件,此时真空吸盘将晶圆牢牢吸附。
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H01L 半导体器件;其他类目中不包括的电固体器件
H01L21-00 专门适用于制造或处理半导体或固体器件或其部件的方法或设备
H01L21-02 .半导体器件或其部件的制造或处理
H01L21-64 .非专门适用于包含在H01L 31/00至H01L 51/00各组的单个器件所使用的除半导体器件之外的固体器件或其部件的制造或处理
H01L21-66 .在制造或处理过程中的测试或测量
H01L21-67 .专门适用于在制造或处理过程中处理半导体或电固体器件的装置;专门适合于在半导体或电固体器件或部件的制造或处理过程中处理晶片的装置
H01L21-70 .由在一共用基片内或其上形成的多个固态组件或集成电路组成的器件或其部件的制造或处理;集成电路器件或其特殊部件的制造