[发明专利]一种可视化自动监控RAID卡芯片和BBU温度的方法

权利要求书

1.一种可视化自动监控RAID卡芯片和BBU温度的方法，其特征在于，包括以下步骤：

1)判断用户是否输入要求监控的总时间T；

2)计算测试过程中的开始时间相对秒数T1；

3)采用持续循环来进行持续温度监控；

4)设置读取和画图呈现的时间间隔T2秒；

5)每隔T2秒钟计算一次当前时间与开始时间之间的秒数差T4；

6)比较T4和步骤1中的T；

7)将读取到的温度值，以图像的形式呈现出来。

2.如权利要求1所述的一种可视化自动监控RAID卡芯片和BBU温度的方法，其特征是，所述的步骤1)中判断用户是否输入要求监控的总时间T，如果没有输入则退出程序，并提示用户输入这个参数；如果有输入，则进入步骤2)。

3.如权利要求1所述的一种可视化自动监控RAID卡芯片和BBU温度的方法，其特征是，所述的步骤2)中计算测试过程中的开始时间相对秒数，将开始时间转换成相对于1970年1月1日的秒数，利用系统命令date+％s计算差值，得出开始时间相对于1970年1月1日的秒数T1。

4.如权利要求1所述的一种可视化自动监控RAID卡芯片和BBU温度的方法，其特征是，所述的步骤3)中采用持续循环来进行持续温度监控，以实现持续读取温度，在达到预定的时间后退出循环，进而结束监控。

5.如权利要求1所述的一种可视化自动监控RAID卡芯片和BBU温度的方法，其特征是，所述的步骤5)中每隔T2秒钟采用系统命令date+％s计算一次当前时间相对于1970年1月1日的秒数T3，计算T3和T1之间的秒数差T4。

6.如权利要求1所述的一种可视化自动监控RAID卡芯片和BBU温度的方法，其特征是，所述的步骤6)中比较T4和步骤1)中的T，如果T4大于T，说明需求的监控时间已经达到，需要停止温度读取和收集，则退出持续循环，停止收集温度值；如果T4小于T，说明还没有达到需求的监控时间最大值，需要继续进行温度读取和监控，返回到获取当前时间相对秒数T3的步骤5)，继续计算T3与T1的差值T4，进而判断T4和T。

7.如权利要求1所述的一种可视化自动监控RAID卡芯片和BBU温度的方法，其特征是，所述的步骤7)中将获取的RAID卡芯片和BBU的温度，分别储存到系统chip_temp.log和bbu_temp.log文件中保存，将chip_temp.log和bbu_temp.log文件中保存的从开始监控到现在时间的所有读取到的raid卡芯片和BBU的温度值，以图像的形式呈现出来。

8.如权利要求1所述的一种可视化自动监控RAID卡芯片和BBU温度的方法，其特征是，所述的步骤7)中将两个温度值的数据分别画成一条折线，然后在同一幅图像中呈现，将当前的图像保存起来作为存档。

9.如权利要求8所述的一种可视化自动监控RAID卡芯片和BBU温度的方法，其特征是，所述的步骤7)中找到两条温度线中的最大值和最小值，保证图线的呈现范围在这两个值中间，进而确保所有的点都能够呈现到图像中。

10.如权利要求1所述的一种可视化自动监控RAID卡芯片和BBU温度的方法，其特征是，所述的步骤7)中分别将两条温度线的最大值乘以1.1，最小值乘以0.9，以避免折线跟图像的边框重合。