[发明专利]一种可视化自动监控RAID卡芯片和BBU温度的方法

说明书

一种可视化自动监控RAID卡芯片和BBU温度的方法，属于存储系统部件技术领域。包括以下步骤：1)判断用户是否输入要求监控的总时间T；2)计算测试过程中的开始时间相对秒数T1；3)采用持续循环来进行持续温度监控；4)设置读取和画图呈现的时间间隔T2秒；5)每隔T2秒钟计算一次当前时间与开始时间之间的秒数差T4；6)比较T4和步骤1中的T；7)将读取到的温度值，以图像的形式呈现出来。RAID卡芯片和BBU的温度监控过程可自动化进行，而且在测试过程中能够以比较直观的方法将获取到的温度结果实时展现出来。

技术领域

本发明涉及一种可视化自动监控RAID卡芯片和BBU温度的方法，属于存储系统部件技术领域。

背景技术

目前，RAID卡作为现代服务器的存储子系统核心部件，直接关乎服务器数据稳定性，BBU是为了实现意外断电后的数据恢复引入的RAID卡重要组成部件。在RAID卡工作中，RAID卡的芯片和BBU都是要求在一定温度范围内工作的，超过或者接进这个建议温度就会引起未知的崩溃风险，直接影响服务器数据的稳定性。

所以在RAID卡测试过程中，在进行压力的同时需要对芯片和BBU的温度进行监控，以此判断是否会发生温度超过建议值的情况。

目前只有人工在开始测试前和测试完成后分别单独查看温度值，并未有有效的监控测试过程中温度值的方法。同时等测试人员注意到测试结束的时候，压力可能已经停掉比较久了，这时候已经不能真实的反馈压力刚刚结束时的芯片和BBU温度值，因此读取的温度值不能完全反应出准确数据，需要测试人员再去进行数值的对比，查看是否有问题，很是不便。

针对上述已有技术状况，本发明申请人做了大量反复而有益的探索，最终产品取得了有效的成果，并且形成了下面将要介绍的技术方案。

发明内容

本发明针对上述现有技术的不足，提供一种可视化自动监控RAID卡芯片和BBU温度的方法，与现有技术相比，RAID卡芯片和BBU的温度监控过程可自动化进行，能够实时获取测试过程中的温度，而且在测试过程中能够以比较直观的方法将获取到的温度结果实时展现出来，便于测试人员进行快速判断，同时当出现温度超标的情况，可快速判断出出现问题的时间点，以更快地排除故障，大大提高了效率和实用性。

本发明解决技术问题的技术方案为：一种可视化自动监控RAID卡芯片和BBU温度的方法，包括以下步骤：

1)判断用户是否输入要求监控的总时间T；

2)计算测试过程中的开始时间相对秒数T1；

3)采用持续循环来进行持续温度监控；

4)设置读取和画图呈现的时间间隔T2秒；

5)每隔T2秒钟计算一次当前时间与开始时间之间的秒数差T4；

6)比较T4和步骤1中的T；

7)将读取到的温度值，以图像的形式呈现出来。

进一步地，所述的步骤1)中判断用户是否输入要求监控的总时间T，如果没有输入则退出程序，并提示用户输入这个参数；如果有输入，则进入步骤2)。

进一步地，所述的步骤2)中计算测试过程中的开始时间相对秒数，将开始时间转换成相对于1970年1月1日的秒数，利用系统命令date+％s计算差值，得出开始时间相对于1970年1月1日的秒数T1。

进一步地，所述的步骤3)中采用持续循环来进行持续温度监控，以实现持续读取温度，在达到预定的时间后退出循环，进而结束监控。

进一步地，所述的步骤5)中每隔T2秒钟采用系统命令date+％s计算一次当前时间相对于1970年1月1日的秒数T3，计算T3和T1之间的秒数差T4。