[发明专利]一种新型TIADC自校准系统

权利要求书

1.一种新型TIADC自校准系统，其特征在于，包括：采样模块、检测模块和校准模块；

采样模块设置基准通道、被校准通道和与被校准通道对应的辅助采样通道；

检测模块用于检测基准通道和被校准通道之间的时间失配误差值；

校准模块用于当采样时间失配时，通过对被校准通道和辅助采样通道的采样值、以及检测模块的时间失配误差值进行计算，对被校准模块的采样值进行校准。

2.如权利要求1所述的新型TIADC自校准系统，其特征在于，对于M通道TIADC(M>＝2)，为除基准通道外的M-1个被校准通道对应增加M-1个辅助采样通道。

3.如权利要求1所述的新型TIADC自校准系统，其特征在于，辅助采样通道的采样值ADC2_ref与被校准通道的采样值ADC2作差，该输出信号再与调节寄存器DelaySet经除法器做除法后输出V2，V2与检测模块输出的检测值△T经乘法器做乘法后输出V3，采样值ADC2与V3经减法器做减法后得到被校准后的采样值，基准通道的采样值与被校准后的采样值作为检测模块的输入，并共同输出到后级系统。

4.如权利要求3所述的新型TIADC自校准系统，其特征在于，所述调节寄存器DelaySet＝T_ref-T_real，其中，T_ref为辅助采样通道的采样时刻，T_real为实际情况下有时间失配时被校准通道的采样时刻。

5.如权利要求4所述的新型TIADC自校准系统，其特征在于，时间失配误差值△T＝T_real-T_ideal，其中，T_real为实际情况下有时间失配时被校准通道的采样时刻。

6.如权利要求5所述的新型TIADC自校准系统，其特征在于，校准模块的具体计算公式为：ADC2_cal＝ADC2-△Y_cal

△Y_cal＝rate*△T

rate＝(ADC2_ref-ADC2)÷DelaySet

因此，ADC2_cal＝ADC2-(ADC2_ref-ADC2)÷DelaySet*△T

其中，ADC2_cal为校准后的采样值，△Y_cal为校准值，rate为采样时刻的近似斜率。

7.如权利要求1所述的新型TIADC自校准系统，其特征在于，对三个通道的采样时刻进行设置，将同源采样时钟CLK分为两路，一路直接提供给基准通道作为采样时钟，一路经过DelayTs延时后作为被校准通道的采样时钟和辅助采样通道的采样时钟源，辅助采样通道的采样时钟源再经过DelayTr之后作为辅助采样通道的采样时钟。

8.如权利要求7所述的新型TIADC自校准系统，其特征在于，CLK的时钟频率为Fs/M(Fs为采样频率，M表示M通道TIADC)，DelayTs等于Ts(Ts为TIADC采样时钟周期，Ts＝1/Fs)，DelayTr是在DelayTs/10附近的可调延时，其调节寄存器是DelaySet。

9.如权利要求1所述的新型TIADC自校准系统，其特征在于，对被采样通道的采样数据先进行校准，再将校准后的数据与基准通道的数据输入检测模块，实现TIADC循环校准。