[发明专利]一种基于JTAG链路的电路板测试系统及测试方法

权利要求书

1.一种基于JTAG链路的电路板测试系统，其特征在于，所述系统包括：主控器、通用仪器设备、JTAG链路控制器、第一JTAG链路芯片及JTAG陪试工装；

所述主控器与通用仪器设备、JTAG链路控制器分别连接，用于分别向通用仪器设备、JTAG链路控制器发送测试指令；

所述通用仪器设备用于根据主控器发来的测试指令生成模拟量激励信号并发送给被测电路板，以及将被测电路板产生的模拟量响应信号发送给主控器；

JTAG陪试工装与被测电路板通过数字I/O口连接，数字I/O口用于在被测电路板与JTAG陪试工装之间传递数字量信号；

所述JTAG链路控制器分别连接第一JTAG链路芯片及JTAG陪试工装，用于根据主控器发来的测试指令生成数字量激励信号，并发送给嵌设在被测电路板中的第一JTAG链路芯片以激励被测电路板产生响应信号，再串行地读取所述JTAG陪试工装的输出以获取被测电路板数字量响应信号；或者，所述JTAG链路控制器将所述数字量激励信号通过JTAG陪试工装发送给被测电路板以激励被测电路板产生响应信号，再由JTAG链路控制器串行地读取所述第一JTAG链路芯片的输出以获取被测电路板的数字量响应信号；

所述JTAG链路控制器还用于比对所述数字量激励信号及数字量响应信号，并将比对结果返回给主控器；

所述主控器还用于根据所述比对结果、所述测试指令及模拟量响应信号判断被测电路板是否正常，并生成测试结果。

2.根据权利要求1所述的基于JTAG链路的电路板测试系统，其特征在于，当所述被测电路板上包括A/D模块时，在所述通用仪器设备根据主控器发来的测试指令生成模拟量激励信号并发送给被测电路板后，所述第一JTAG链路芯片还用于在JTAG链路控制器的控制下驱动所述A/D模块采集所述模拟量激励信号，并读取A/D模块生成的数字量响应信号；

所述主控器还用于根据所述模拟量激励信号和数字量响应信号，按照预设的比对标准判断所述A/D模块是否正常工作。

3.根据权利要求1所述的基于JTAG链路的电路板测试系统，其特征在于，当所述被测电路板上包括D/A模块时，在所述JTAG链路控制器根据主控器发来的测试指令生成数字量激励信号并发送给第一JTAG链路芯片后，所述第一JTAG链路芯片还用于在JTAG链路控制器的控制下驱动所述D/A模块采集所述数字量激励信号以产生模拟量响应信号，并通过所述通用仪器设备发送给主控器；

所述主控器还用于根据所述模拟量响应信号和所述测试指令，按照预设的比对标准判断所述D/A模块是否正常工作。

4.根据权利要求1所述的基于JTAG链路的电路板测试系统，其特征在于，所述JTAG陪试工装还包括第二JTAG链路芯片，所述第二JTAG链路芯片用于将JTAG陪试工装的数字I/O口接收到的数字量响应信号输出到芯片引脚，所述JTAG链路控制器用串行的方式读取第二JTAG链路芯片引脚以获取被测电路板的数字量响应信号。

5.根据权利要求1所述的基于JTAG链路的电路板测试系统，其特征在于，所述JTAG陪试工装还包括第二JTAG链路芯片，所述第二JTAG链路芯片用于将所述JTAG链路控制器发来的数字量激励信号通过JTAG陪试工装的数字I/O口传递给被测电路板，以激励被测电路板产生响应信号。

6.根据权利要求1所述的基于JTAG链路的电路板测试系统，其特征在于，所述JTAG陪试工装上数字I/O口的端口数量不小于被测电路板上数字I/O口的端口数量。

7.根据权利要求1所述的基于JTAG链路的电路板测试系统，其特征在于，所述系统还包括人机交互接口，用于接收用户输入的测试数据并发送给所述主控器，还用于显示所述主控器生成的测试结果。

8.根据权利要求1所述的基于JTAG链路的电路板测试系统，其特征在于，所述通用仪器设备包括：示波器、信号发生器、源表中的一种或几种。