[发明专利]一种基于JTAG链路的电路板测试系统及测试方法

说明书

本发明公开一种基于JTAG链路的电路板测试系统及测试方法，该系统包括：主控器、通用仪器设备、JTAG链路控制器、第一JTAG链路芯片及JTAG陪试工装；主控器向通用仪器设备、JTAG链路控制器发送测试指令，后两者根据测试指令生成激励信号并发送给被测电路板；JTAG链路控制器可直接将激励信号通过第一JTAG链路芯片发给被测电路板以激励其产生响应信号；或者，间接地将激励信号通过JTAG陪试工装发送给被测电路板以激励其产生响应信号；JTAG链路控制器将比对数字量激励信号及数字量响应信号后的结果发给主控器；通用仪器设备将被测电路板产生的模拟量响应信号发送给主控器；主控器根据比对结果、测试指令及模拟量响应信号判断被测电路板是否正常。

技术领域

本发明涉及设备检测技术领域，尤其涉及一种基于JTAG链路的电路板测试系统及测试方法。

背景技术

目前，对于电路板和系统产品的测试，一般采用以下两种方式进行：

1)由人工通过仪器(如信号源、高精度万用表等)进行筛选和检测。这种测试方法对板卡的合格程度以及功能完整性的测试不充分，过于依赖于操作人员的知识水平、操作熟练程度，以及待测板被测试点同测试表笔的充分接触程度等因素，生产线人员的疲劳程度，均可直接影响测试结果的正确性和充分性。即，这种测试方法过于依赖人的因素，导致生产效率不高，人工反复测试等情况。

2)由传统自动测试台，通过一定的软件平台、集成台式设备，按照软件流程测试。自动测试在一定程度上解决了人工测试的矛盾，但依然存在平台成本和测试稳定性、测试速度和测试稳定性之间的矛盾。

同时，以上两种方法，对于封装密集的大规模集成电路和引脚不可见的BGA封装芯片没有测试能力，对于大规模集成芯片产品，测试覆盖率非常低。针对相关技术中电路板测试方法效率低且过于依赖测试人员的问题，目前尚未提出有效的解决方案。

发明内容

为解决上述技术问题，本发明实施例提供了一种基于JTAG链路的电路板测试系统及测试方法。

一方面，本发明实施例提供了一种基于JTAG链路的电路板测试系统，所述系统包括：主控器、通用仪器设备、JTAG链路控制器、第一JTAG链路芯片及JTAG陪试工装；

所述主控器与通用仪器设备、JTAG链路控制器分别连接，用于分别向通用仪器设备、JTAG链路控制器发送测试指令；

所述通用仪器设备用于根据主控器发来的测试指令生成模拟量激励信号并发送给被测电路板，以及将被测电路板产生的模拟量响应信号发送给主控器；

JTAG陪试工装与被测电路板通过数字I/O口连接，数字I/O口用于在被测电路板与JTAG陪试工装之间传递数字量信号；

所述JTAG链路控制器分别连接第一JTAG链路芯片及JTAG陪试工装，用于根据主控器发来的测试指令生成数字量激励信号，并发送给嵌设在被测电路板中的第一JTAG链路芯片以激励被测电路板产生响应信号，再串行地读取所述JTAG陪试工装的输出以获取被测电路板数字量响应信号；或者，所述JTAG链路控制器将所述数字量激励信号通过JTAG陪试工装发送给被测电路板以激励被测电路板产生响应信号，再由JTAG链路控制器串行地读取所述第一JTAG链路芯片的输出以获取被测电路板的数字量响应信号；

所述JTAG链路控制器还用于比对所述数字量激励信号及数字量响应信号，并将比对结果返回给主控器；

所述主控器还用于根据所述比对结果、所述测试指令及模拟量响应信号判断被测电路板是否正常，并生成测试结果。

在一实施例中，当所述被测电路板上包括A/D模块时，在所述通用仪器设备根据主控器发来的测试指令生成模拟量激励信号并发送给被测电路板后，所述第一JTAG链路芯片还用于在JTAG链路控制器的控制下驱动所述A/D模块采集所述模拟量激励信号，并读取A/D模块生成的数字量响应信号；