[发明专利]快速访问寄存器和表项的验证方法、装置和验证设备有效
申请号: | 201810562043.7 | 申请日: | 2018-06-01 |
公开(公告)号: | CN108829592B | 公开(公告)日: | 2021-11-05 |
发明(设计)人: | 田晓旭;刘冬培;沈剑良;徐庆阳;刘勤让;朱珂;吕平;宋克;张丽;丁青子;黑建平;杨晓龙;杨堃;汪欣;丁旭;汤先拓 | 申请(专利权)人: | 天津芯海创科技有限公司;天津市滨海新区信息技术创新中心 |
主分类号: | G06F11/36 | 分类号: | G06F11/36;G06F13/16;G06F30/3308;G06F115/06 |
代理公司: | 北京超凡志成知识产权代理事务所(普通合伙) 11371 | 代理人: | 王文红 |
地址: | 300450 天津市滨海新区*** | 国省代码: | 天津;12 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 快速 访问 寄存器 验证 方法 装置 设备 | ||
1.一种快速访问寄存器和表项的验证方法,其特征在于,预先将待验证的集成电路划分成第一模块和第二模块,所述第一模块为设计中功能稳定的部分,所述第二模块为设计中功能不稳定的部分;
所述方法包括:
为第一模块和第二模块分别构建第一测试系统和第二测试系统;所述第一测试系统通过所述集成电路的外部接口与所述第一模块连接,所述第二测试系统通过所述集成电路的内部接口与所述第二模块连接;
对所述第一测试系统,针对外部接口协议构造测试用例;
对所述第二测试系统,通过直接访问内部接口的协议地址和读写的数据信号的方式构造测试用例;
在所述第一测试系统和所述第二测试系统上分别运行对应的所述测试用例,并得到仿真结果。
2.根据权利要求1所述的方法,其特征在于,所述为第一模块和第二模块分别构建第一测试系统和第二测试系统的步骤,包括:
创建第一测试系统包括的第一驱动模块、第一采样模块及第一对比模块;所述第一采样模块与所述集成电路的外部接口连接;
创建第二测试系统包括的第二驱动模块、第二采样模块及第二对比模块;所述第二采样模块与所述集成电路的内部接口连接。
3.根据权利要求2所述的方法,其特征在于,在所述创建第二测试系统包括的第二驱动模块、第二采样模块及第二对比模块的步骤之后,还包括:
对所述集成电路的RTL代码顶层DUT进行修改,将与外部接口协议相关的信号接口由内部接口协议相关的信号接口替代,并对实例化部分进行相应替代。
4.根据权利要求1所述的方法,其特征在于,所述在所述第一测试系统和所述第二测试系统上分别运行对应的所述测试用例,并得到仿真结果的步骤包括:
在所述第一测试系统上运行对应的所述测试用例;
在所述第二测试系统上运行对应的所述测试用例,并且所述第二测试系统通过所述第二模块和所述第二测试系统之间连接的数据连线访问所述寄存器和所述表项。
5.根据权利要求1所述的方法,其特征在于,还包括:
当所述第二模块的功能发生增加或修改时,在所述第二测试系统上进行回归测试。
6.一种快速访问寄存器和表项的验证装置,其特征在于,预先将待验证的集成电路划分成第一模块和第二模块,所述第一模块为设计中功能稳定的部分,所述第二模块为设计中功能不稳定的部分;
所述装置包括:
系统搭建模块,用于为第一模块和第二模块分别构建第一测试系统和第二测试系统;所述第一测试系统通过所述集成电路的外部接口与所述第一模块连接,所述第二测试系统通过所述集成电路的内部接口与所述第二模块连接;
测试用例构造模块,用于对所述第一测试系统,针对外部接口协议构造测试用例;对所述第二测试系统,通过直接访问内部接口的协议地址和读写的数据信号的方式构造测试用例;
运行仿真模块,用于在所述第一测试系统和所述第二测试系统上分别运行对应的所述测试用例,并得到仿真结果。
7.根据权利要求6所述的装置,其特征在于,所述运行仿真模块还用于:
在所述第一测试系统上运行对应的所述测试用例;
在所述第二测试系统上运行对应的所述测试用例,并且所述第二测试系统通过所述第二模块和所述第二测试系统之间连接的数据连线访问所述寄存器和所述表项。
8.一种验证设备,其特征在于,包括处理器和机器可读存储介质,所述机器可读存储介质存储有能够被所述处理器执行的机器可执行指令,所述处理器执行所述机器可执行指令以实现上述权利要求1至5任一项所述的方法。
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