[发明专利]一种磁体外观缺陷检测的方法及系统

权利要求书

1.一种磁体外观缺陷检测的方法，其特征在于，包括以下步骤：

(1)获取待检测磁体的图像，并对磁体图像进行二值化处理；

(2)对经过二值化处理后的磁体图像进行特征提取，并根据提取到的图像特征，确定待检测磁体的缺陷类型、缺陷位置以及缺陷大小；

所述缺陷类型包括缺口、压痕、粘料、针眼、裂痕和划痕，其中，缺口、压痕、粘料、针眼的缺陷大小通过缺陷面积表征；裂痕和划痕的缺陷大小通过缺陷长度表征；

所述磁体图像进行二值化处理后，若磁体边界与缺陷边界重合，则确定待检测磁体的缺陷位置位于磁体的边界上；

(3)根据待检测磁体的缺陷位置以及缺陷大小，确定待检测磁体是否合格；

根据不同磁体缺陷类型，设置不同的判断磁体合格的标准；针对同种缺陷类型，设置第一面积阈值、第二面积阈值、第一长度阈值和第二长度阈值，分别对待检测磁体是否合格进行判断：当缺陷位于磁体边界上时，若缺陷面积超过第一面积阈值或缺陷长度超过第一长度阈值，则所述待检测磁体不合格；当缺陷位于磁体边界内时，若缺陷面积超过第二面积阈值或缺陷长度超过第二长度阈值，则所述待检测磁体不合格。

2.一种磁体外观缺陷检测的系统，其特征在于，包括图像采集装置和图像处理装置；所述图像采集装置自动获取待检测磁体的图像；所述图像采集装置将磁体图像传输至所述图像处理装置；所述图像处理装置对所述磁体图像进行二值化处理后，对所述磁体图像进行特征提取，并根据提取到的图像特征，确定待检测磁体的缺陷类型、缺陷位置以及缺陷大小，以及根据待检测磁体的缺陷位置以及缺陷大小，确定待检测磁体是否合格；

所述图像处理装置通过对磁体图像进行识别后，确定的该磁体图像上的缺陷类型包括缺口、压痕、粘料、针眼、裂痕和划痕，其中，缺口、压痕、粘料、针眼的缺陷大小通过缺陷面积表征；裂痕和划痕的缺陷大小通过缺陷长度表征；

所述图像处理装置判断缺陷边界是否与磁体边界重合，若磁体边界与缺陷边界重合，则确定该缺陷位于磁体的边界上；

所述图像处理装置根据不同磁体缺陷类型，设置不同的判断磁体合格的标准；针对同种缺陷类型，设置第一面积阈值、第二面积阈值、第一长度阈值和第二长度阈值，分别对待检测磁体是否合格进行判断；所述图像处理装置中存储有所述第一面积阈值、所述第二面积阈值、所述第一长度阈值和所述第二长度阈值；当缺陷位于磁体边界上时，所述图像处理装置若判断出缺陷面积超过所述第一面积阈值或缺陷长度超过所述第一长度阈值，则所述待检测磁体不合格；当缺陷位于磁体边界内时，所述图像处理装置若判断出缺陷面积超过所述第二面积阈值或缺陷长度超过所述第二长度阈值，则所述待检测磁体不合格。

3.根据权利要求2所述的一种磁体外观缺陷检测的系统，其特征在于，还包括报警模块；当所述图像处理器判断出所述待检测磁体不合格时，所述图像处理器控制报警模块报警；所述报警模块为报警灯或报警蜂鸣器。

4.根据权利要求2所述的一种磁体外观缺陷检测的系统，其特征在于，还包括光电传感器，所述光电传感器在其检测区域内检测到所述待检测磁体时产生信号，并将该信号传输至所述图像采集装置，所述图像采集装置根据该信号的触发对所述待检测磁体进行拍照。