[发明专利]一种磁体外观缺陷检测的方法及系统

说明书

本发明公开了一种磁体外观缺陷检测的方法及装置，首先对待检测磁体图像进行二值化处理，其次对经过二值化处理后的磁体图像进行特征提取，并根据提取到的图像特征，确定待检测磁体的缺陷类型、缺陷位置以及缺陷大小。最后，根据待检测磁体的缺陷位置以及缺陷大小，确定待检测磁体是否合格。从而对符合工艺要求的产品进行准确、快速的识别，减少由于采用同一识别标准而造成的误识别。

技术领域

本发明属于图像识别技术领域，尤其是一种磁体外观缺陷检测的方法及系统。

背景技术

金属工件的主要生产工艺流程为机械加工、冲压、精密铸造、粉末冶金、金属注射成型、尺寸检测、外观缺陷检测等。在整个生产过程中受到制造工艺的影响，工件尺寸和外观在一定程度上会存在不合格。其中外观缺陷主要包括：缺口、粘料、裂痕、压痕、针眼、划痕和起泡等。存在外观质量缺陷的工件若流入下个生产工序，会导致组装受阻、变形，影响组装件的质量，严重时可能导致组装件报废而停机，极大地影响了自动化生产线的生产效率，给生产企业带来潜在的经济损失和信誉风险。

传统外观缺陷检测方法有人工目测。自动化生产线速度很快，人眼根本无法快速捕捉到准确的缺陷信息，尤其一些很小的缺陷，人的肉眼完全无法分辨出合格与否，这就造成缺陷检测精度低、误检率高的问题。

目前磁体的外观缺陷检验分选需耗费大量的人工，包括对产品的缺口、异物附着、裂痕、压痕、针眼、掉漆的缺陷检验分选，由于自动化生产线速度很快，人眼根本无法快速捕捉到准确的缺陷信息，尤其一些很小的缺陷，人的肉眼完全无法分辨出合格与否，这就造成缺陷检测精度低、误检率高的问题；而使用精度较高的智能化设备对磁体的外观缺陷进行识别时，采用整体图像统一标准的判断方法，某些瑕疵在工艺的标准要求以内属于合格品时，也会将其判别为不合格品，从而产生误判。

发明内容

本发明的目的在于克服现有技术中在对符合工艺要求的产品识别中，将合格品识别为不合格品，或者使用同一识别标准将不合格品误识别为合格品的不足，本发明采用一种磁体外观缺陷检测的方法及装置。

为了实现上述发明目的，本发明提供了以下技术方案：

一种磁体外观缺陷检测的方法，包括以下步骤：

(1)获取待检测磁体的图像，并对磁体图像进行二值化处理；

(2)对经过二值化处理后的磁体图像进行特征提取，并根据提取到的图像特征，确定待检测磁体的缺陷类型、缺陷位置以及缺陷大小；

(3)根据待检测磁体的缺陷位置以及缺陷大小，确定待检测磁体是否合格。优选的，步骤(2)中，所述缺陷类型包括缺口、压痕、粘料、针眼、裂痕和划痕，其中，缺口、压痕、粘料、针眼的缺陷大小通过缺陷面积表征；裂痕和划痕的缺陷大小通过缺陷长度表征。

优选的，步骤(2)中，所述磁体图像进行二值化处理后，若磁体边界与缺陷边界重合，则确定待检测磁体的缺陷位置位于磁体的边界上。

优选的，当缺陷位于磁体边界上时，若缺陷面积超过第一面积阈值或缺陷长度超过第一长度阈值，则所述待检测磁体不合格；当缺陷位于磁体边界内时，若缺陷面积超过第二面积阈值或缺陷长度超过第二长度阈值，则所述待检测磁体不合格。

一种磁体外观缺陷检测的系统，其特征在于，包括图像采集装置和图像处理装置；所述图像采集装置自动获取待检测磁体的图像；所述图像采集装置将磁体图像传输至所述图像处理装置；所述图像处理装置对所述磁体图像进行二值化处理后，对所述磁体图像进行特征提取，并根据提取到的图像特征，确定待检测磁体的缺陷类型、缺陷位置以及缺陷大小，以及根据待检测磁体的缺陷位置以及缺陷大小，确定待检测磁体是否合格。

优选的，所述图像处理装置通过对磁体图像进行识别后，确定的该磁体图像上的缺陷类型包括缺口、压痕、粘料、针眼、裂痕和划痕，其中，缺口、压痕、粘料、针眼的缺陷大小通过缺陷面积表征；裂痕和划痕的缺陷大小通过缺陷长度表征。