[发明专利]LED光源结温的无损实时测量方法

权利要求书

1.一种LED光源结温的无损实时测量方法，其特征在于，所述测量方法包括如下步骤：

S1、对待检测的LED光源进行通电，将LED光源通电后发出的光束经光学元件后形成的光学成像投影到屏上；

S2、建立LED光源中各LED芯片与光学成像之间的位置对应关系；

S3、根据建立的对应关系，通过光纤分别采集光学成像中各个位置的光束，通过在光纤与投影屏之间设置光阑，去除采集的光束中的激发光，对光束中LED芯片发出的光进行光谱分析，获得包括对应位置的各LED芯片的光频峰值、宽度信息；

S4、建立光谱-温度关系的标准曲线，结合标准曲线和获得的光谱，确定LED光源中各LED芯片的结温温度。

2.根据权利要求1所述的LED光源结温的无损实时测量方法，其特征在于，所述光学元件为透镜组。

3.根据权利要求1所述的LED光源结温的无损实时测量方法，其特征在于，经光学元件形成的光学成像投射于投影屏上。

4.根据权利要求3所述的LED光源结温的无损实时测量方法，其特征在于，所述投影屏上设置有平面直角坐标系，所述光学成像位于所述平面直角坐标系中。

5.根据权利要求1所述的LED光源结温的无损实时测量方法，其特征在于，采集光学成像中各个位置的光束时，将光纤的采集端分别靠近光学成像面中的各个位置进行光束采集。

6.根据权利要求5所述的LED光源结温的无损实时测量方法，其特征在于，所述光纤为玻璃光纤或者石英光纤或者塑料光纤。

7.根据权利要求1所述的LED光源结温的无损实时测量方法，其特征在于，通过热电偶热平衡法或者电流脉冲法单独测量LED芯片结温，并且测量不同结温下的光谱，以此建立LED光谱-温度的标准曲线。

8.根据权利要求1所述的LED光源结温的无损实时测量方法，其特征在于，实际测量的LED芯片结温是通过以上测量光谱信息比较以上建立的光谱-温度关系的标准曲线获得的。

9.根据权利要求1所述的LED光源结温的无损实时测量方法，其特征在于，所述测量方法还包括：

对比所有LED芯片结温的数值，当结温值位于额定的温差范围内时，表明LED光源为合格品，否则表明LED光源为不合格品。

10.根据权利要求1所述的LED光源结温的无损实时测量方法，其特征在于，进行光谱分析所采用的光谱分析元件包括光栅和CCD或者CMOS和计算机。