[发明专利]电路板检测方法、系统、可读存储介质、设备及电路板

权利要求书

1.一种电路板检测方法，应用于电路板检测设备，其特征在于，所述电路板检测设备包括光学成像镜头及红外成像镜头，所述方法包括：

获取所述光学成像镜头拍摄的待测电路板接电前的光学图像；

获取所述红外成像镜头拍摄的所述待测电路板接电后的红外图像，并判断所述红外图像中是否存在亮度异常的目标图像区域；

若是，则确定每个所述目标图像区域在所述光学图像上对应的映射区域，并对每个所述映射区域进行标记。

2.根据权利要求1所述的电路板检测方法，其特征在于，所述电路板检测设备还包括一供电机构，在所述获取所述光学成像镜头拍摄的待测电路板接电前的光学图像的步骤之后，还包括：

根据所述光学图像，定位出所述待测电路板上的电源接入点的位置信息；

向所述供电机构发送所述电源接入点的位置信息，以使所述供电机构移动至连接所述电源接入点。

3.根据权利要求2所述的电路板检测方法，其特征在于，所述待测电路板上设有多个光学定位点，所述待测电路板放置于一承载台上，所述根据所述光学图像，定位出所述待测电路板上的电源接入点的位置信息的步骤包括：

获取每个所述光学定位点在所述光学图像上的位置信息，并根据每个所述光学定位点的位置信息确定所述待测电路板在所述承载台上的摆放位置；

根据所述待测电路板在所述承载台上的摆放位置，确定出所述电源接入点的位置信息。

4.根据权利要求1所述的电路板检测方法，其特征在于，所述判断所述红外图像中是否存在亮度异常的目标图像区域的步骤包括：

将所述红外图像与所述待测电路板的标准红外图像的相应区域进行亮度对比；

判断所述红外图像中是否存在偏离目标亮度阈值的所述目标图像区域，所述目标亮度阈值为所述标准红外图像中与所述目标图像区域对应的图像区域的亮度值。

5.根据权利要求1所述的电路板检测方法，其特征在于，所述确定每个所述目标图像区域在所述光学图像上对应的映射区域的步骤包括：

将所述红外图像与所述光学图像进行对位重合；

将每个所述目标图像区域投影到所述光学图像上，以在所述光学图像上得到对应的所述映射区域。

6.根据权利要求5所述的电路板检测方法，其特征在于，所述待测电路板上设有至少一光学对位点，所述将所述红外图像与所述光学图像进行对位重合的步骤包括：

将所述红外图像中的每个所述光学对位点的图像区域与所述光学图像中的对应的所述光学对位点的图像区域进行对位重合，以使所述红外图像与所述光学图像进行对位重合。

7.一种电路板检测系统，应用于电路板检测设备，其特征在于，所述电路板检测设备包括光学成像镜头及红外成像镜头，所述系统包括：

光学图像获取模块，用于获取所述光学成像镜头拍摄的待测电路板接电前的光学图像；

红外图像获取模块，用于获取所述红外成像镜头拍摄的所述待测电路板接电后的红外图像，并判断所述红外图像中是否存在亮度异常的目标图像区域；

标记模块，用于在判断到所述红外图像中存在亮度异常的所述目标图像区域时，确定每个所述目标图像区域在所述光学图像上对应的映射区域，并对每个所述映射区域进行标记。

8.一种计算机可读存储介质，其上存储有计算机程序，其特征在于，该程序被处理器执行时实现如权利要求1－6任一所述的方法。

9.一种电路板检测设备，包括存储器、处理器以及存储在存储器上并可在处理器上运行的计算机程序，其特征在于，所述电路板检测设备还包括承载台、供电机构、光学成像镜头及红外成像镜头，所述处理器执行所述程序时实现如权利要求1－6任一所述的方法。

10.一种电路板，其上设有电源接入点，其特征在于，所述电路板的表面上设有多个光学定位点及至少一光学对位点，所述电路板在每个所述光学对位点的下方均开设至少一传热孔，所述传热孔的一端与所述光学对位点连通，另一端连接一发热电路，所述发热电路与所述电源接入点电性连接。