[发明专利]一种用于显微系统自动调节垂直度的方法及其校准玻片

权利要求书

1.一种用于显微系统自动调节垂直度的校准玻片，所述校准玻片上设有若干个图形，所述图形包括设置于校准玻片中心位置的中心图形、及以该中心图形为中心进行圆周阵列的阵列图形，应用该校准玻片后显微系统自动调节垂直度的方法，其特征在于，包括以下步骤：步骤一，建立检测基准平台，检测基准平台包括显微系统及其镜头、基体载物台、校准玻片；其位置关系为：基体载物台设于显微系统及其镜头的下方，校准玻片放置于基体载物台上；步骤二，建立评价系统，评价系统包括评价软件及载有评价软件的主体；其位置关系为，显微系统通过数据线与载有评价软件的主体连接，通过评价软件将显微系统检测到的数据进行收集与分析；步骤三，建立检测数据曲线，数据曲线由检测到的校准玻片中心图形聚焦位置的数据、及其校准玻片上以中心图形圆周阵列的各图形聚焦位置的数据连接组合而成；步骤四，自动调节垂直度，将拟合出的曲线计算出其最高点和最低点，从而计算出其垂直度，通过评价软件自动根据计算出的垂直度数值自动调节。

2.根据权利要求1所述的用于显微系统自动调节垂直度的校准玻片，应用该校准玻片后显微系统垂直度的评价方法，其特征在于：其具体方法为：A、通过显微系统图像评价软件控制显微系统自动对校准玻片上的中心图形进行聚焦，得出聚焦位置的数据；B、通过显微系统图像评价软件控制显微系统自动对校准玻片上的阵列图形进行聚焦，记录各图形的聚焦位置的数据；C、并通过计算阵列图形的聚焦位置，对显微系统载物台和物镜中心线垂直度进行评价和展现。