[发明专利]一种用于显微系统自动调节垂直度的方法及其校准玻片

说明书

本发明涉及一种用于显微系统自动调节垂直度的方法及其校准玻片，所述校准玻片上设有若干个图形，其特征在于：所述图形包括设置于校准玻片中心位置的中心图形、及以该中心图形为中心进行圆周阵列的阵列图形。本发明一种用于显微系统自动调节垂直度的方法，具体步骤如下：步骤一：建立检测基准平台；步骤二：建立评价系统；步骤三：建立检测数据曲线；步骤四：自动调节垂直度。本发明的效果是：通过对标准化的校准玻片进行显微系统图像评价，评价速度快，使用方便且成本低。

技术领域

本发明属于微检测与微装配技术领域，更具体地，涉及一种用于显微系统自动调节垂直度的方法及其校准玻片。

背景技术

传统的光学显微系统和镜头是竖直布置的，拍摄正下方平台上的物体，从而获得图形，在大景深的条件下，通过判断标准长度的变化来确定光轴偏转的角度，在小景深的条件下，通过判断图形四个角的对焦程度来确定光轴偏转方向。

在使用全自动显微系统时，对显微系统载物台和物镜中心线垂直度要求比较高，尤其是高倍放大时，物镜的景深会很小，显微系统载物台和物镜中心线不垂直，会造成显微系统视野范围一部分图像无法聚焦，即视野中一部分图像清晰，一部分图像不清晰。

一般情况下，载物台平面和物镜中心线的垂直度是依赖专用测量工具进行人工测量的，测量需要专业人员和专用设备。

此种方法调节显微系统的垂直度时，其问题在于：由于载物台是由多个零部件组成的、物镜要按需更换，因此，载物台平面和物镜中心线的垂直度需要定期的、按需评价，目前没有一种快速、简便的评价方法。

发明内容

本发明的目的在于针对上述的问题提供一种可快速评价显微系统的垂直度的一种用于显微系统自动调节垂直度的方法及其校准玻片。

本发明一种用于显微系统自动调节垂直度的校准玻片，其特征在于：所述校准玻片上设有若干个图形；

进一步的，所述图形包括设置于校准玻片中心位置的中心图形、及以该中心图形为中心进行圆周阵列的阵列图形。

本发明一种用于显微系统自动调节垂直度的方法，具体步骤如下：

步骤一：建立检测基准平台：

检测基准平台包括显微系统及其镜头、基体载物台、校准玻片。其位置关系为：基体载物台设于显微系统及其镜头的下方，校准玻片放置于基体载物台上。

步骤二：建立评价系统：

评价系统包括评价罗件及载有评价软件的主体(如电脑、手机等)。其位置关系为：显微系统通过数据线与载有评价软件的主体连接，通过评价软件将显微系统检测到的数据进行收集与分析。

步骤三：建立检测数据曲线：

数据曲线由检测到的校准玻片中心图形的数据、及其校准玻片上以中心图形圆周阵列的图形的数据连接组合而成。

步骤四：自动调节垂直度：

将拟合出的曲线计算出其最高点和最低点，从而计算出其垂直度，通过评价软件自动根据计算出的垂直度数值自动调节。

具体方法为：

1、通过显微系统图像评价软件控制显微系统自动对校准玻片上的中心图形进行聚焦，得出聚焦位置的数据；

2、通过显微系统图像评价软件控制显微系统自动对校准玻片上的阵列图形进行聚焦，记录各图形的聚焦位置的数据；

3、并通过计算阵列图形的聚焦位置，对显微系统载物台和物镜中心线垂直度进行评价和展现。

本发明的效果是：通过对标准化的校准玻片进行显微系统图像评价，评价速度快，使用方便且成本低。

附图说明