[发明专利]一种批量检测RAID卡健康状态的测试方法及系统

权利要求书

1.一种批量检测RAID卡健康状态的测试方法，其特征在于，该方法基于预先设定的用于检测用于反映RAID卡各零组件的健康状态的参数的值的零组件检测工具，该测试方法包括步骤：

分别获取当前各待测测试机的IP地址；

基于上述获取到的各IP地址，将所述的零组件检测工具和用于基于所述零组件检测工具的检测值测试RAID卡各零组件的健康状态的测试程序均发送至各相应的待测测试机；

基于上述获取到的IP地址，对应获取各相应待测测试机的root权限，并对应控制各待测测试机内测试程序和零组件检测工具运行；

各测试程序分别基于其对应零组件检测工具检测到的各相应参数的值以及预先设定的上述各相应参数的参考阈值范围，判定得出各待测测试机内RAID卡的健康状态。

2.根据权利要求1所述的批量检测RAID卡健康状态的测试方法，其特征在于，进一步地，所述RAID卡的零组件包括RAID卡的缓冲存储器和内存颗粒。

3.根据权利要求1或2所述的批量检测RAID卡健康状态的测试方法，其特征在于，进一步地，该方法在各测试程序分别基于其对应零组件检测工具检测到的各相应参数的值以及预先设定的上述各相应参数的参考阈值范围，判定得出各待测测试机内RAID卡的健康状态之前，还包括步骤：

检测当前待测测试机内RAID卡的数量，并在检测到当前待测测试机内RAID卡的数量大于1时，遍历所述的RAID卡，并分别基于当前待测测试机内的零组件检测工具检测到的相应参数的值以及预先设定的该相应参数的参考阈值范围，判定并获取该当前待测测试机内RAID卡的健康状态。

4.根据权利要求1或2所述的批量检测RAID卡健康状态的测试方法，其特征在于，该方法在各测试程序分别基于其对应零组件检测工具检测到的各相应参数的值以及预先设定的上述各相应参数的参考阈值范围，判定得出各待测测试机内RAID卡的健康状态时，还包括步骤：

各测试程序分别抓取其所在待测测试机的系统日志和RAID卡日志，并分别通过关键字分析法，进一步判定各待测测试机内RAID卡的健康状态。

5.一种批量检测RAID卡健康状态的测试系统，其特征在于，该系统基于预先设定的用于检测用于反映RAID卡各零组件的健康状态的参数的值的零组件检测工具，该测试系统包括：

IP地址采集单元，用于获取当前各待测测试机的IP地址；

数据传输单元，用于基于上述IP地址采集单元获取到的各IP地址，将所述的零组件检测工具和用于基于所述零组件检测工具的检测值测试RAID卡各零组件的健康状态的测试程序均发送至各相应的待测测试机；

启动单元，分别与所述的IP地址采集单元和数据传输单元相连，用于基于IP地址采集单元获取到的各IP地址，对应获取各相应待测测试机的root权限，并对应控制各待测测试机内测试程序和零组件检测工具运行；

健康状态判定单元，应用于待测测试机，包括所述的测试程序，其用于基于该所述的测试程序，调取零组件检测工具检测到的各相应参数的值、依据调取到的参数的值以及预先设定的上述各相应参数的参考阈值范围、以及判定并得出各待测测试机内RAID卡的健康状态。

6.根据权利要求5所述的批量检测RAID卡健康状态的测试系统，其特征在于，所述RAID卡的零组件包括RAID卡的缓冲存储器和内存颗粒。

7.根据权利要求5或6所述的批量检测RAID卡健康状态的测试系统，其特征在于，进一步地，所述的健康状态判定单元在其基于相应的零组件检测工具检测到的各相应参数的值以及预先设定的上述各相应参数的参考阈值范围，判定得出各待测测试机内RAID卡的健康状态之前，还用于检测当前待测测试机内RAID卡的数量，并用于在检测到当前待测测试机内RAID卡的数量大于1时，遍历所述的RAID卡，并分别基于当前待测测试机内的零组件检测工具检测到的相应参数的值以及预先设定的该相应参数的参考阈值范围，判定并获取该当前待测测试机内RAID卡的健康状态。

8.根据权利要求5或6所述的批量检测RAID卡健康状态的测试系统，其特征在于，所述的健康状态判定单元，基于其测试程序，还分别用于抓取其所在待测测试机的系统日志和RAID卡日志，并分别用于通过关键字分析法，进一步判定各待测测试机内RAID卡的健康状态。