[发明专利]一种批量检测RAID卡健康状态的测试方法及系统

说明书

本发明提供了一种批量检测RAID卡健康状态的测试方法及系统，均基于预先设定的用于检测用于反映RAID卡各零组件的健康状态的参数的值的零组件检测工具，且均基于零组件检测工具检测到的各相应参数的值以及预先设定的该各相应参数的参考阈值范围，判定并得出各待测测试机内RAID卡的健康状态，整个测试过程只需一台主控测试机、其他通过软件实现，避免了串口工具及RAID卡通信的使用，既能降低测试成本，又能解放测试人力。

技术领域

本发明涉及RAID健康状态检测领域，具体是一种批量检测RAID卡健康状态的测试方法及系统。

背景技术

RAID是英文Redundant Array of Independent Disks的缩写，翻译成中文即为独立磁盘冗余阵列，或简称磁盘阵列。

RAID卡是用来实现RAID功能的板卡，其通常是由I/O处理器、硬盘控制器、硬盘连接器、缓存和内存颗粒等一系列零组件以及一系列相应的软件控制程序构成的，可以让很多磁盘驱动器同时传输数据，是存储子系统的心脏，其健康状态与存储子系统的性能和稳定性密切相关。然而现有技术中用于检测RAID卡健康状态的技术方案，基本都是需要串口工具和RAID卡通信来发布命令进行测试的，必须手动进行且无法批量测试，测试步骤繁琐此为现有技术的不足之处。

本发明提供了一种批量检测RAID卡健康状态的测试方法，用于批量检测RAID卡的健康状态，并用于解放人力、简化测试以及降低测试成本。

发明内容

本发明所要解决的技术问题是，提供一种批量检测RAID卡健康状态的测试方法及系统，用于批量检测RAID卡的健康状态，并用于解放人力、简化测试以及降低测试成本。

为解决上述技术问题，本发明提供了一种批量检测RAID卡健康状态的测试方法，该方法基于预先设定的用于检测用于反映RAID卡各零组件的健康状态的参数的值的零组件检测工具，该测试方法包括步骤：

分别获取当前各待测测试机的IP地址；

基于上述获取到的各IP地址，将所述的零组件检测工具和用于基于所述零组件检测工具的检测值测试RAID卡各零组件的健康状态的测试程序均发送至各相应的待测测试机；

基于上述获取到的IP地址，对应获取各相应待测测试机的root权限，并对应控制各待测测试机内测试程序和零组件检测工具运行；

各测试程序分别基于其对应零组件检测工具检测到的各相应参数的值以及预先设定的上述各相应参数的参考阈值范围，判定得出各待测测试机内RAID卡的健康状态。

进一步地，所述RAID卡的零组件包括RAID卡的缓冲存储器和内存颗粒。

进一步地，该方法在各测试程序分别基于其对应零组件检测工具检测到的各相应参数的值以及预先设定的上述各相应参数的参考阈值范围，判定得出各待测测试机内RAID卡的健康状态之前，还包括步骤：

检测当前待测测试机内RAID卡的数量，并在检测到当前待测测试机内RAID卡的数量大于1时，遍历所述的RAID卡，并分别基于当前待测测试机内的零组件检测工具检测到的相应参数的值以及预先设定的该相应参数的参考阈值范围，判定并获取该当前待测测试机内RAID卡的健康状态。

该测试方法在各测试程序分别基于其对应零组件检测工具检测到的各相应参数的值以及预先设定的上述各相应参数的参考阈值范围，判定得出各待测测试机内RAID卡的健康状态时，还包括步骤：

各测试程序分别抓取其所在待测测试机的系统日志和RAID卡日志，并分别通过关键字分析法，进一步判定各待测测试机内RAID卡的健康状态。

另外，本发明还提供了一种批量检测RAID卡健康状态的测试系统，该系统基于预先设定的用于检测用于反映RAID卡各零组件的健康状态的参数的值的零组件检测工具，包括：