[发明专利]综合测试仪生成阶段快速校准系统及方法有效

专利信息
申请号: 201810662435.0 申请日: 2018-06-25
公开(公告)号: CN110632356B 公开(公告)日: 2021-10-22
发明(设计)人: 杨超 申请(专利权)人: 大唐联仪科技有限公司
主分类号: G01R3/00 分类号: G01R3/00;G01R35/00
代理公司: 北京路浩知识产权代理有限公司 11002 代理人: 王莹;李相雨
地址: 100082 北京市海*** 国省代码: 北京;11
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摘要:
搜索关键词: 综合 测试仪 生成 阶段 快速 校准 系统 方法
【权利要求书】:

1.一种综合测试仪生成阶段快速校准系统,其特征在于,包括处理设备、综合测试仪和射频仪,其中:

所述处理设备,用于配置第一测试信息序列表和第二测试信息序列表,并将所述第一测试信息序列表发送给所述综合测试仪,将所述第二测试信息序列表发送给所述射频仪;

所述综合测试仪,用于根据所述第一测试信息序列表依序向所述射频仪发送功率信号,所述第一测试信息序列表包括校准频点以及每个校准频点对应的校准功率值;

所述射频仪,用于根据所述第二测试信息序列表依序对所述功率信号进行分析获得测试功率值,并将所述测试功率值发送给所述处理设备,所述第二测试信息序列表包括校准频点;

所述处理设备,还用于根据所述测试功率值与对应的所述校准功率值获得增益补偿值;

其中,所述第一测试信息序列表中的校准频点和所述第二测试信息序列表中的校准频点相同。

2.根据权利要求1所述的系统,其特征在于,所述综合测试仪具体用于:

根据所述第一测试信息序列表中的校准频点顺序依次确定目标校准频点,根据所述目标校准频点下的校准功率值依次向所述射频仪发送功率信号。

3.根据权利要求2所述的系统,其特征在于,所述射频仪具体用于:

根据所述第二测试信息序列表中的校准频点顺序依次确定目标校准频点,并接收所述综合测试仪发来的根据目标校准频点下各个校准功率值发送的功率信号,并对各个功率信号进行分析获得对应的测试功率值。

4.根据权利要求3所述的系统,其特征在于,在所述处理设备还配置功率触发规则,并将功率触发规则发送给所述射频仪后,所述射频仪具体用于:

接收所述综合测试仪发送的根据第一个校准频点下第一个校准功率值发送的功率信号,并对功率信号进行分析获得第一个测试功率值;

当第一个测试功率值大于预设功率值后,开启执行所述第二测试信息序列表。

5.根据权利要求4所述的系统,其特征在于,所述第一测试信息序列表和第二测试信息序列表中均包括:相邻校准频点之间的切换触发间隙时间。

6.一种基于上述权利要求1-5中任一权利要求所述系统的快速校准方法,其特征在于,包括:

所述处理设备配置第一测试信息序列表和第二测试信息序列表,并将所述第一测试信息序列表发送给所述综合测试仪,将所述第二测试信息序列表发送给所述射频仪;

所述综合测试仪根据所述第一测试信息序列表依序向所述射频仪发送功率信号,所述第一测试信息序列表包括校准频点以及每个校准频点对应的校准功率值;

所述射频仪根据所述第二测试信息序列表依序对所述功率信号进行分析获得测试功率值,并将所述测试功率值发送给所述处理设备,所述第二测试信息序列表包括校准频点;

所述处理设备根据所述测试功率值与对应的所述校准功率值获得增益补偿值;

其中,所述第一测试信息序列表中的校准频点和所述第二测试信息序列表中的校准频点相同。

7.根据权利要求6所述的方法,其特征在于,所述综合测试仪根据所述第一测试信息序列表中的校准频点顺序依次确定目标校准频点,根据所述目标校准频点下的校准功率值依次向所述射频仪发送功率信号。

8.根据权利要求7所述的方法,其特征在于,所述射频仪根据所述第二测试信息序列表中的校准频点顺序依次确定目标校准频点,并接收所述综合测试仪发来的根据目标校准频点下各个校准功率值发送的功率信号,并对各个功率信号进行分析获得对应的测试功率值。

9.根据权利要求8所述的方法,其特征在于,在所述处理设备还配置功率触发规则,并将功率触发规则发送给所述射频仪后,所述射频仪具体接收所述综合测试仪发送的根据第一个校准频点下第一个校准功率值发送的功率信号,并对功率信号进行分析获得第一个测试功率值;当第一个测试功率值大于预设功率值后,开启执行所述第二测试信息序列表。

10.根据权利要求9所述的方法,其特征在于,所述第一测试信息序列表和第二测试信息序列表中均包括:相邻校准频点之间的切换触发间隙时间。

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