[发明专利]综合测试仪生成阶段快速校准系统及方法

说明书

本发明提供一种综合测试仪生成阶段快速校准系统及方法，系统包括：处理设备，用于配置第一测试信息序列表和第二测试信息序列表，并将所述第一测试信息序列表发送给所述综合测试仪，将所述第二测试信息序列表发送给所述射频仪；综合测试仪，用于根据所述第一测试信息序列表依序向所述射频仪发送功率信号；射频仪，用于根据所述第二测试信息序列表依序对所述功率信号进行分析获得测试功率值，并将所述测量功率值发送给所述处理设备；处理设备，还用于根据所述测量功率值与对应的所述校准功率值获得增益补偿值，达到自动测试，优化测试流程，减少仪器间交互次数，提高综合测试仪的生产效率及降低生产成本。

技术领域

本发明涉及综合测试仪生成技术领域，尤其涉及一种综合测试仪生成阶段快速校准系统及方法。

背景技术

目前综合测试仪在生产过程中需要对整机的射频器件进行校准，其校准精度的好坏会对后续使用产生影响，为了保证仪器在全频段内的精度，往往需要通过减小校准频点密度的方式尽可能校准更多的频点。其中，会带来的负面影响就是校准效率的降低，这个问题严重影响到了仪器的产量，精度和效率间的冲突是行业中各仪表厂家面临的共同问题。

工厂为了提升生产效率只能通过增加校准系统的数量和人力投入的方式解决，生产成本也随之上涨，居高不下的生产成本严重影响了企业的利润，因此仪器研发企业都在寻找优化方法解决这一矛盾。

发明内容

本发明提供一种综合测试仪生成阶段快速校准系统及方法，用于解决现有技术中综合测试仪在频点校准的效率低下的问题。

第一方面，本发明提供一种综合测试仪生成阶段快速校准系统，包括处理设备、综合测试仪和射频仪，其中：

所述处理设备，用于配置第一测试信息序列表和第二测试信息序列表，并将所述第一测试信息序列表发送给所述综合测试仪，将所述第二测试信息序列表发送给所述射频仪；

所述综合测试仪，用于根据所述第一测试信息序列表依序向所述射频仪发送功率信号，所述第一测试信息序列表包括校准频点以及每个校准频点对应的校准功率值；

所述射频仪，用于根据所述第二测试信息序列表依序对所述功率信号进行分析获得测试功率值，并将所述测量功率值发送给所述处理设备，所述第二测试信息序列表包括校准频点；

所述处理设备，还用于根据所述测量功率值与对应的所述校准功率值获得增益补偿值；

其中，所述第一测试信息序列表中的校准频点和所述第二测试信息序列表中的校准频点相同。

可选地，所述综合测试仪具体用于：

根据所述第一测试信息序列表中的校准频点顺序依次确定目标校准频点，根据所述目标校准频点下的校准功率值依次向所述射频仪发送功率信号。

可选地，所述射频仪具体用于：

根据所述第二测试信息序列表中的校准频点顺序依次确定目标校准频点，并接收所述综合测试仪发来的根据目标校准频点下各个校准功率值发送的功率信号，并对各个功率信号进行分析获得对应的测试功率值。

可选地，在所述处理设备还配置功率触发规则，并将功率触发规则发送给所述射频仪后，所述射频仪具体用于：

接收所述综合测试仪发送的根据第一个校准频点下第一个校准功率值发送的功率信号，并对功率信号进行分析获得第一个测试功率值；

当第一个测试功率值大于预设功率值后，开启执行所述第二测试信息序列表。

可选地，所述第一测试信息序列表和第二测试信息序列表中均包括：相邻校准频点之间的切换触发间隙时间。

第二方面，本发明实施例提供一种基于上述系统的快速校准方法，包括：