[发明专利]测量显示面板亮度的方法在审
申请号: | 201810663659.3 | 申请日: | 2018-06-25 |
公开(公告)号: | CN108873404A | 公开(公告)日: | 2018-11-23 |
发明(设计)人: | 陈黎暄 | 申请(专利权)人: | 深圳市华星光电技术有限公司 |
主分类号: | G02F1/13 | 分类号: | G02F1/13 |
代理公司: | 深圳市德力知识产权代理事务所 44265 | 代理人: | 林才桂;王中华 |
地址: | 518132 广东*** | 国省代码: | 广东;44 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 显示面板 亮度测量设备 目标测量 透光区 测量显示面板 掩膜板遮挡 测量 掩膜板 非发光区域 子像素区域 定位显示 区域对位 位置提供 遮光区 漏光 暴露 便利 分析 | ||
1.一种测量显示面板亮度的方法,其特征在于,包括如下步骤:
步骤S1、提供显示面板(1)、掩膜板(2)及亮度测量设备(3),所述掩膜板(2)包括至少两个透光区(21)及位于各个透光区(21)四周的遮光区(22),所述亮度测量设备(3)的最小测量面积大于每一个透光区(21)的面积且小于各个透光区(21)的面积之和;
步骤S2、用所述掩膜板(2)遮挡所述显示面板(1),并使得所述透光区(21)与所述显示面板(1)的目标测量区域(11)对位,以暴露出所述显示面板(1)的目标测量区域(11);
步骤S3、用所述亮度测量设备(3)测量所述显示面板(1)的目标测量区域(11)的亮度。
2.如权利要求1所述的测量显示面板亮度的方法,其特征在于,所述步骤S3中测量所述显示面板(1)的目标测量区域(11)在所述显示面板(1)的最暗画面下的亮度。
3.如权利要求1所述的测量显示面板亮度的方法,其特征在于,所述显示面板(1)包括阵列排布的多个子像素区域(12)以及分隔各个相邻的子像素区域(12)的非发光区域(13)。
4.如权利要求3所述的测量显示面板亮度的方法,其特征在于,所述显示面板(1)的目标测量区域(11)为所述显示面板(1)的至少两个子像素区域(12)或至少两个子像素区域(12)的一部分。
5.如权利要求4所述的测量显示面板亮度的方法,其特征在于,所述多个子像素区域(12)包括红色子像素(R)、绿色子像素区域(G)及蓝色子像素区域(B)。
6.如权利要求5所述的测量显示面板亮度的方法,其特征在于,所述显示面板(1)的目标测量区域(11)为所述显示面板(1)的至少两个红色子像素区域(R)或至少两个红色子像素区域(R)的一部分。
7.如权利要求5所述的测量显示面板亮度的方法,其特征在于,所述显示面板(1)的目标测量区域(11)为所述显示面板(1)的至少两个绿色子像素区域(G)或至少两个绿色子像素区域(G)的一部分。
8.如权利要求5所述的测量显示面板亮度的方法,其特征在于,所述显示面板(1)的目标测量区域(11)为所述显示面板(1)的至少两个蓝色子像素区域(B)或至少两个蓝色子像素区域(B)的一部分。
9.如权利要求3所述的测量显示面板亮度的方法,其特征在于,所述显示面板(1)的目标测量区域(11)为所述显示面板(1)的非发光区域(13)或非发光区域(13)的一部分。
10.如权利要求1所述的测量显示面板亮度的方法,其特征在于,每一个透光区(21)的宽度均大于1μm。
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