[发明专利]测量显示面板亮度的方法

说明书

本发明提供一种测量显示面板亮度的方法。所述测量显示面板亮度的方法包括如下步骤：提供显示面板、掩膜板及亮度测量设备，所述掩膜板包括至少两个透光区及位于各个透光区四周的遮光区，所述亮度测量设备的最小测量面积小于所述各个透光区的面积之和；用所述掩膜板遮挡所述显示面板，并使得所述透光区与所述显示面板的目标测量区域对位，以暴露出所述显示面板的目标测量区域；用所述亮度测量设备测量所述显示面板的目标测量区域的亮度，通过掩膜板遮挡显示面板的目标测量区域以外的区域，能够实现利用现有的亮度测量设备测量特定子像素区域或特定非发光区域的亮度，为分析和定位显示面板的漏光位置提供便利。

技术领域

本发明涉及显示技术领域，尤其涉及一种测量显示面板亮度的方法。

背景技术

随着显示技术的发展，液晶显示器(Liquid Crystal Display，LCD)等平面显示装置因具有高画质、省电、机身薄及应用范围广等优点，而被广泛的应用于手机、电视、个人数字助理、数字相机、笔记本电脑、台式计算机等各种消费性电子产品，成为显示装置中的主流。

现有市场上的液晶显示装置大部分为背光型液晶显示器，其包括液晶显示面板及背光模组(backlight module)。液晶显示面板的工作原理是在两片平行的玻璃基板当中放置液晶分子，两片玻璃基板中间有许多垂直和水平的细小电线，通过通电与否来控制液晶分子改变方向，将背光模组的光线折射出来产生画面。

通常液晶显示面板由彩膜基板(CF，Color Filter)、薄膜晶体管基板(TFT，ThinFilm Transistor)、夹于彩膜基板与薄膜晶体管基板之间的液晶(LC，Liquid Crystal)及密封胶框(Sealant)组成，其成型工艺一般包括：前段阵列(Array)制程(薄膜、黄光、蚀刻及剥膜)、中段成盒(Cell)制程(TFT基板与CF基板贴合)及后段模组组装制程(驱动IC与印刷电路板压合)。其中，前段Array制程主要是形成TFT基板，以便于控制液晶分子的运动；中段Cell制程主要是在TFT基板与CF基板之间添加液晶；后段模组组装制程主要是驱动IC压合与印刷电路板的整合，进而驱动液晶分子转动，显示图像。

液晶显示器的全白最亮画面和全黑最暗画面的亮度的比值是一个用于衡量液晶显示器画质好坏的重要参数，从5000:1向6000：1、7000：1和8000:1的产品进阶的过程中，分析液晶显示器全白最亮画面和全黑最暗画面的亮度的比值，需要测量液晶显示器在全白最亮画面和全黑最暗画面的亮度。目前的亮度测量设备的测量过程通常包括测量一个区域的亮度，并根据设备内置的公式分析该区域内各个子像素及子像素之间的黑矩阵的亮度。提升液晶显示器全白最亮画面和全黑最暗画面的亮度的比值的主要方法包括减少液晶显示器全黑最暗画面的漏光，但由于目前的亮度测量设备的最小测量面积通常包括几十个甚至几千个像素，从而利用现有的亮度测量设备难以实现像素级的测量，只能分析得到一个区域内的亮度情况，但在该区域内既包括多种不同颜色的子像素也包含各个子像素之间的黑矩阵，此时由于亮度测量设备的最小测量面积的限制，无法仅测量一个子像素或仅测量两个子像素之间的一段黑矩阵的亮度，在分析漏光时，也就无法准确确定漏光是来自黑矩阵还是哪一种颜色的像素，从而无法准确分析漏光原因。

发明内容

本发明的目的在于提供一种测量显示面板亮度的方法，能够利用现有的亮度测量设备测量特定子像素区域或特定非发光区域的亮度，为分析和定位显示面板的漏光位置提供便利。

为实现上述目的，本发明提供一种测量显示面板亮度的方法，包括如下步骤：

步骤S1、提供显示面板、掩膜板及亮度测量设备，所述掩膜板包括至少两个透光区及位于各个透光区四周的遮光区，所述亮度测量设备的最小测量面积小于所述各个透光区的面积之和；

步骤S2、用所述掩膜板遮挡所述显示面板，并使得所述透光区与所述显示面板的目标测量区域对位，以暴露出所述显示面板的目标测量区域；