[发明专利]印花面料纬斜测量方法及装置有效
| 申请号： | 201810674590.4 | 申请日： | 2018-06-27 |
| 公开（公告）号： | CN108709503B | 公开（公告）日： | 2020-02-07 |
| 发明（设计）人： | 张战旗;孙晓敏;刘桂杰;庞云蛟;张立奎;邢俊峰;刘圆圆 | 申请（专利权）人： | 鲁丰织染有限公司 |
| 主分类号： | G01B11/02 | 分类号： | G01B11/02 |
| 代理公司： | 37212 青岛发思特专利商标代理有限公司 | 代理人： | 耿霞 |
| 地址： | 255100 山东*** | 国省代码： | 山东;37 |
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| 摘要： | |||
| 搜索关键词： | 纬斜 印花面料 测量 测量方法及装置 投射 纵向测距装置 布面幅宽 测距装置 测量流程 测量偏移 测量装置 常规测量 纺织印染 水平光线 纵向边界 布面 验布机 偏移 纬向 验布 光源 面料 检验 优化 | ||
1.一种印花面料纬斜测量方法，该方法所使用的装置设置在验布机的验布台上，包括光源，用于投射纬向水平光线；横向测距装置，用于测量布面幅宽；纵向测距装置，用于测量偏移线(2)与待测布面印花的纵向边界间距，其特征在于，包括以下步骤：
(1)投射，投射纬向水平光线至验布面；
(2)设定基准，设定一条纬向水平光线作为基准线(1)，基准线(1)与待测印花纵向边界最低端对齐；
(3)设定偏移，设定另一条纬向水平光线作为偏移线(2)，使偏移线(2)与基准线(1)的间距与布面印花未出现偏移时的纵向边界间距相同；
(4)测量，测量布面幅宽c和偏移距离a，偏移距离a为待测布面印花边界最高点到偏移线(2)的垂直距离；
(5)计算，计算纬斜
2.根据权利要求1所述的印花面料纬斜测量方法，其特征在于：所述纬向水平光线覆盖布面两端。
3.根据权利要求1所述的印花面料纬斜测量方法，其特征在于：所述光源为镭射灯(3)，镭射灯前端固定直线透镜模组。
4.根据权利要求3所述的印花面料纬斜测量方法，其特征在于：所述镭射灯(3)通过调节云台与验布台上横梁(4)固定连接。
5.根据权利要求1所述的印花面料纬斜测量方法，其特征在于：所述横向测距装置为测距尺(5)，验布台下横梁(6)上设置测距尺(5)。
6.根据权利要求1所述的印花面料纬斜测量方法，其特征在于：所述纵向测距装置包括直尺(7)和平行设置在验布台左、右横梁间的第一横担(8)、第二横担(9)，直尺(7)一端固定套筒，所述套筒沿第一横担(8)滑动。
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