[发明专利]印花面料纬斜测量方法及装置

说明书

本发明涉及印花面料纬斜测量方法及装置，属于纺织印染技术领域。本发明的目的在于提高印花面料纬斜检验效率，避免常规测量纬斜造成的面料浪费，优化测量流程，可更快、更准确、更经济的测量出印花面料的纬斜。本发明印花面料纬斜测量方法，包括以下步骤：(1)投射；(2)设定基准；(3)设定偏移；(4)测量；(5)计算。本发明印花面料纬斜测量装置，设置在验布机的验布台上，包括：光源，用于投射纬向水平光线；横向测距装置，用于测量布面幅宽；纵向测距装置，用于测量偏移线与待测布面印花的纵向边界间距。

技术领域

本发明涉及印花面料纬斜测量方法及装置，属于纺织印染技术领域。

背景技术

随着市场需求的变化，近年来客户审美观不断提高，印花面料以“时尚”、“潮流”、“新颖”等特点，迅速得到市场的青睐，各种花色、花型，满足了不同消费群体的需求，但由于印花面料布面花型的特点，要求花型纬斜及底部面料纬斜需一致，且需要在合格范围之内，若超出范围或纬斜不一致，极易造成对花不正，花型错格等问题，特别对领子、肩部和下摆等关键部位影响较大。

传统印花面料测量纬斜的方法，取一段布面用标签笔将花型一一连接，再用米尺或三角尺对花型偏移距离进行测量，再根据织物有效幅宽计算纬斜，耗用时间长，尤其是局部纬斜情况，每个部位不一样，需要测量的次数多，造成成品检验工作效率低，浪费面料。

专利申请号CN200410060096.7，提出一种纺织品纬斜的检测方法和检测装置，该专利通过摄像器件拍摄待测纺织品的图像，然后对拍摄到的图像信号进行处理，获得纺织品在摄像器件处的纬斜，该申请在待测纺织品色差较大时，图像信号识别较为清晰，可以获得纬斜，但很多面料与印花色差较为相近，图像信号在进行处理时，无法有效识别印花边界，获得的纬斜误差较大。

发明内容

本发明的目的在于提出一种印花面料纬斜测量方法及装置，提高印花面料纬斜检验效率，避免常规测量纬斜造成的面料浪费，优化测量流程，可更快、更准确、更经济的测量出印花面料的纬斜。

本发明印花面料纬斜测量方法，包括以下步骤：

(1)投射，投射纬向水平光线至验布面；

(2)设定基准，设定一条纬向水平光线作为基准线；

(3)设定偏移，设定另一条纬向水平光线作为偏移线，使偏移线与基准线的间距与布面印花未出现偏移时的纵向边界间距相同；

(4)测量，测量布面幅宽c和偏移距离a，偏移距离a为偏移线与待测布面印花纵向边界的间距；

(5)计算，计算纬斜

所述的，步骤(2)中，基准线与待测印花纵向边界最低端对齐。

所述的，步骤(4)中，a为待测布面印花边界最高点到偏移线的垂直距离。

所述的，纬向水平光线覆盖布面两端。

本发明还提供一种印花面料纬斜测量装置，设置在验布机的验布台上，包括：光源、横向测距装置和纵向测距装置，光源，用于投射纬向水平光线；横向测距装置，用于测量布面幅宽；纵向测距装置，用于测量偏移线与待测布面印花的纵向边界间距。

所述的，光源为镭射灯，镭射灯前端固定直线透镜模组。

所述的，镭射灯通过调节云台与验布台上横梁固定连接。

所述的，横向测距装置为测距尺，验布台下横梁上设置测距尺。

测距尺用于测量通过验布台的布面幅宽

所述的，纵向测距装置包括直尺和平行设置在验布台左、右横梁间的第一横担、第二横担，直尺一端固定套筒，所述套筒沿第一横担滑动。

本发明的有益效果是：