[发明专利]磁盘生命周期分析方法及装置

权利要求书

1.一种磁盘生命周期分析方法，包括：

获取目标磁盘的监控指标信息；

根据所述监控指标信息，生成目标磁盘的磁盘磨损率变化曲线；

根据所述目标磁盘的磁盘磨损率变化曲线，以及历史的磁盘生命周期数据，分析目标磁盘的失效时间；

所述监控指标信息包括与目标磁盘的磁盘性能相关的指标信息。

2.根据权利要求1所述的方法，其中，所述根据所述目标磁盘的磁盘磨损率变化曲线，以及历史的磁盘生命周期数据，分析目标磁盘的失效时间进一步包括：

根据所述目标磁盘的磁盘磨损率变化曲线，以及历史的磁盘生命周期数据，生成目标磁盘的预测磁盘磨损率变化曲线；将预测磁盘磨损率变化曲线中磁盘磨损率达到预设磨损率阈值时所对应的时间确定为目标磁盘的失效时间。

3.根据权利要求1或2所述的方法，其中，所述方法还包括：

根据目标磁盘的业务量和/或工作温度修正目标磁盘的失效时间。

4.根据权利要求1所述的方法，其中，所述根据所述目标磁盘的磁盘磨损率变化曲线，以及历史的磁盘生命周期数据，分析目标磁盘的失效时间进一步包括：

根据所述目标磁盘的磁盘磨损率变化曲线，以及历史的磁盘生命周期数据，通过机器学习的方法分析目标磁盘的失效时间。

5.根据权利要求1所述的方法，其中，在所述生成目标磁盘的磁盘磨损率变化曲线之后，所述方法还包括：

根据目标磁盘的磁盘磨损率变化曲线的波动程度，发送警报信息。

6.根据权利要求5所述的方法，其中，所述根据目标磁盘的磁盘磨损率变化曲线的波动程度，发送警报信息进一步包括：

当目标磁盘的磁盘磨损率变化曲线的波动程度大于预设波动阈值时，发送警报信息。

7.根据权利要求1所述的方法，其中，在所述生成目标磁盘的磁盘磨损率变化曲线之后，所述方法还包括：

根据目标磁盘的磁盘磨损率变化曲线，分析引起目标磁盘的磁盘磨损率变化的原因。

8.根据权利要求7所述的方法，其中，所述根据目标磁盘的磁盘磨损率变化曲线，分析引起目标磁盘的磁盘磨损率变化的原因进一步包括：

根据目标磁盘的磁盘磨损率变化曲线，分析业务量和/或工作温度对磁盘磨损率的影响。

9.根据权利要求1所述的方法，其中，在所述获取目标磁盘的监控指标信息之前，所述方法还包括：

根据目标磁盘型号和/或目标磁盘控制器信息确定监控指标。

10.根据权利要求1所述的方法，其中，所述获取目标磁盘的监控指标信息进一步包括：

获取周期性上报的目标磁盘的监控指标信息。

11.根据权利要求1所述的方法，其中，所述监控指标信息具体为：S.M.A.R.T指标信息。

12.一种磁盘生命周期分析装置，包括：

获取模块，适于获取目标磁盘的监控指标信息；

生成模块，适于根据所述监控指标信息，生成目标磁盘的磁盘磨损率变化曲线；

分析模块，适于根据所述目标磁盘的磁盘磨损率变化曲线，以及历史的磁盘生命周期数据，分析目标磁盘的失效时间；

所述监控指标信息包括与目标磁盘的磁盘性能相关的指标信息。

13.根据权利要求12所述的装置，其中，所述分析模块进一步适于：

根据所述目标磁盘的磁盘磨损率变化曲线，以及历史的磁盘生命周期数据，生成目标磁盘的预测磁盘磨损率变化曲线；

将预测磁盘磨损率变化曲线中磁盘磨损率达到预设磨损率阈值时所对应的时间确定为目标磁盘的失效时间。