[发明专利]磁盘生命周期分析方法及装置

说明书

本发明公开了一种磁盘生命周期分析方法及装置，所述方法包括：获取目标磁盘的监控指标信息；根据监控指标信息，生成目标磁盘的磁盘磨损率变化曲线；根据目标磁盘的磁盘磨损率变化曲线，以及历史的磁盘生命周期数据，分析目标磁盘的失效时间。采用本方案，可实现对磁盘失效时间的自动化预测，避免因磁盘故障造成的数据丢失或损坏问题，提高磁盘性能的测试效率，大大降低人力成本；并且，本方案实施过程简单易行，适于大规模应用及实施。

技术领域

本发明涉及计算机技术领域，具体涉及一种磁盘生命周期分析方法及装置。

背景技术

随着信息化社会的不断发展，各类数据呈现井喷式的增长，从而需大量的存储介质来实现对数据的存储。而磁盘以其存储性能高、存储容量大、存储可靠性高等特点成为重要的存储介质之一。

在使用磁盘对数据存储过程中，由于磁盘的正常磨损、人为操作、及环境影响等会造成磁盘的失效，从而引发磁盘中存储的数据的破坏或丢失，所以，磁盘性能的检测尤为重要。

然而，目前在对磁盘性能的检测过程中，通常是收集当前磁盘性能数据，确定当前磁盘的可用性，从而使得对磁盘性能的检测具有较高的滞后性，提高数据的存储风险；并且，现有技术中需运维或采购人员等以人工的方式判断磁盘的失效时间，从而大大降低磁盘的性能测试效果，提高磁盘维护的人力成本。

发明内容

鉴于上述问题，提出了本发明以便提供一种克服上述问题或者至少部分地解决上述问题的磁盘生命周期分析方法及装置。

根据本发明的一个方面，提供了一种磁盘生命周期分析方法，包括：

获取目标磁盘的监控指标信息；

根据所述监控指标信息，生成目标磁盘的磁盘磨损率变化曲线；

根据所述目标磁盘的磁盘磨损率变化曲线，以及历史的磁盘生命周期数据，分析目标磁盘的失效时间。

根据本发明的另一方面，提供了一种磁盘生命周期分析装置，包括：

获取模块，适于获取目标磁盘的监控指标信息；

生成模块，适于根据所述监控指标信息，生成目标磁盘的磁盘磨损率变化曲线；

分析模块，适于根据所述目标磁盘的磁盘磨损率变化曲线，以及历史的磁盘生命周期数据，分析目标磁盘的失效时间。

根据本发明的又一方面，提供了一种计算设备，包括：处理器、存储器、通信接口和通信总线，所述处理器、所述存储器和所述通信接口通过所述通信总线完成相互间的通信；

所述存储器用于存放至少一可执行指令，所述可执行指令使所述处理器执行上述磁盘生命周期分析方法对应的操作。

根据本发明的再一方面，提供了一种计算机存储介质，所述存储介质中存储有至少一可执行指令，所述可执行指令使处理器执行如上述磁盘生命周期分析方法对应的操作。

根据本发明提供的磁盘生命周期分析方法及装置，通过获取目标磁盘的监控指标信息；根据监控指标信息，生成目标磁盘的磁盘磨损率变化曲线；最终根据目标磁盘的磁盘磨损率变化曲线，以及历史的磁盘生命周期数据，分析目标磁盘的失效时间。采用本方案，可实现对磁盘失效时间的自动化预测，避免因磁盘故障造成的数据丢失或损坏问题，提高磁盘性能的测试效率，大大降低人力成本；并且，本方案实施过程简单易行，适于大规模应用及实施。

上述说明仅是本发明技术方案的概述，为了能够更清楚了解本发明的技术手段，而可依照说明书的内容予以实施，并且为了让本发明的上述和其它目的、特征和优点能够更明显易懂，以下特举本发明的具体实施方式。

附图说明