[发明专利]发光二极管封装件在审
申请号: | 201810698176.7 | 申请日: | 2017-05-22 |
公开(公告)号: | CN108511580A | 公开(公告)日: | 2018-09-07 |
发明(设计)人: | 金赫骏;李亨根 | 申请(专利权)人: | 首尔半导体株式会社 |
主分类号: | H01L33/48 | 分类号: | H01L33/48;H01L33/58;H01L33/62 |
代理公司: | 北京铭硕知识产权代理有限公司 11286 | 代理人: | 李盛泉;孙昌浩 |
地址: | 韩国京畿*** | 国省代码: | 韩国;KR |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 引线部件 发光二极管封装件 反射面 引线框架 上表面 反射 发光二极管芯片 外壳内侧壁 发光效率 延伸 隔开 贴装 支撑 | ||
1.一种发光二极管封装件,其特征在于,包括:
引线框架,包括相互隔开的第1引线部件及第2引线部件;
外壳,支撑所述引线框架,并使所述第1引线部件及第2引线部件中的任意一个以上的上表面一部分露出;及
发光二极管芯片,贴装于所述外壳的露出区域,
所述外壳包括:形成于上端的上端面;第1反射面,从所述外壳的外侧上端向内侧方向向下倾斜地形成;第2反射面,从所述第1反射面倾斜地延伸至所露出的第1引线部件及第2引线部件中的任意一个的上表面,
在所述上端面和所述第一反射面之间形成阶梯差。
2.根据权利要求1所述的发光二极管封装件,其特征在于,
所述第2反射面的倾斜角度大于所述第1反射面的倾斜角度。
3.根据权利要求2所述的发光二极管封装件,其特征在于,
所述第2反射面的高度低于所述发光二极管芯片的高度。
4.根据权利要求1所述的发光二极管封装件,其特征在于,
所述发光二极管芯片包括:
n型半导体层;
p型半导体层;及
介于所述n型半导体层及p型半导体层之间的活性层,
所述第2反射面的高度低于所述活性层的高度。
5.根据权利要求1所述的发光二极管封装件,其特征在于,
所述外壳的上端面中,所述壳体的侧面侧的宽度和拐角侧的宽度彼此不同。
6.一种发光二极管封装件,其特征在于,包括
引线框架,包括相互隔开的第1引线部件及第2引线部件;
外壳,支撑所述引线框架,并使所述第1引线部件及第2引线部件中的任意一个以上的上表面一部分露出;及
发光二极管芯片,贴装于所述外壳的露出区域,
并且包括:第1反射面,从所述外壳的外侧上端向内侧方向向下倾斜地形成;第2反射面,从所述第1反射面倾斜地延伸至所露出的第1引线部件及第2引线部件中的任意一个的上表面,
所述第2反射面的高度低于所述发光二极管芯片的高度。
7.根据权利要求6所述的发光二极管封装件,其特征在于,
所述第2反射面的倾斜角度大于所述第1反射面的倾斜角度。
8.根据权利要求6所述的发光二极管封装件,其特征在于,
所述第2反射面的高度为50μm至300μm。
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