[发明专利]发光二极管封装件在审

专利信息
申请号: 201810698176.7 申请日: 2017-05-22
公开(公告)号: CN108511580A 公开(公告)日: 2018-09-07
发明(设计)人: 金赫骏;李亨根 申请(专利权)人: 首尔半导体株式会社
主分类号: H01L33/48 分类号: H01L33/48;H01L33/58;H01L33/62
代理公司: 北京铭硕知识产权代理有限公司 11286 代理人: 李盛泉;孙昌浩
地址: 韩国京畿*** 国省代码: 韩国;KR
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摘要:
搜索关键词: 引线部件 发光二极管封装件 反射面 引线框架 上表面 反射 发光二极管芯片 外壳内侧壁 发光效率 延伸 隔开 贴装 支撑
【权利要求书】:

1.一种发光二极管封装件,其特征在于,包括:

引线框架,包括相互隔开的第1引线部件及第2引线部件;

外壳,支撑所述引线框架,并使所述第1引线部件及第2引线部件中的任意一个以上的上表面一部分露出;及

发光二极管芯片,贴装于所述外壳的露出区域,

所述外壳包括:形成于上端的上端面;第1反射面,从所述外壳的外侧上端向内侧方向向下倾斜地形成;第2反射面,从所述第1反射面倾斜地延伸至所露出的第1引线部件及第2引线部件中的任意一个的上表面,

在所述上端面和所述第一反射面之间形成阶梯差。

2.根据权利要求1所述的发光二极管封装件,其特征在于,

所述第2反射面的倾斜角度大于所述第1反射面的倾斜角度。

3.根据权利要求2所述的发光二极管封装件,其特征在于,

所述第2反射面的高度低于所述发光二极管芯片的高度。

4.根据权利要求1所述的发光二极管封装件,其特征在于,

所述发光二极管芯片包括:

n型半导体层;

p型半导体层;及

介于所述n型半导体层及p型半导体层之间的活性层,

所述第2反射面的高度低于所述活性层的高度。

5.根据权利要求1所述的发光二极管封装件,其特征在于,

所述外壳的上端面中,所述壳体的侧面侧的宽度和拐角侧的宽度彼此不同。

6.一种发光二极管封装件,其特征在于,包括

引线框架,包括相互隔开的第1引线部件及第2引线部件;

外壳,支撑所述引线框架,并使所述第1引线部件及第2引线部件中的任意一个以上的上表面一部分露出;及

发光二极管芯片,贴装于所述外壳的露出区域,

并且包括:第1反射面,从所述外壳的外侧上端向内侧方向向下倾斜地形成;第2反射面,从所述第1反射面倾斜地延伸至所露出的第1引线部件及第2引线部件中的任意一个的上表面,

所述第2反射面的高度低于所述发光二极管芯片的高度。

7.根据权利要求6所述的发光二极管封装件,其特征在于,

所述第2反射面的倾斜角度大于所述第1反射面的倾斜角度。

8.根据权利要求6所述的发光二极管封装件,其特征在于,

所述第2反射面的高度为50μm至300μm。

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