[发明专利]双孔形位公差测量机构在审

专利信息
申请号: 201810699674.3 申请日: 2018-06-29
公开(公告)号: CN108534725A 公开(公告)日: 2018-09-14
发明(设计)人: 李军 申请(专利权)人: 太仓迪阳汽车装备有限公司
主分类号: G01B21/00 分类号: G01B21/00;G01B21/02;G01B21/26
代理公司: 上海思微知识产权代理事务所(普通合伙) 31237 代理人: 朱琳
地址: 215000 江苏*** 国省代码: 江苏;32
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摘要:
搜索关键词: 测距传感器 导轨 测试臂 测试探头 固定框架 移动板 测量装置 公差测量 双孔形 伸入 测量测量装置 测量移动 人为差错 人为干扰 位移数据 形位公差 滑动 上移动 移动 双孔 测量 垂直 侧面
【权利要求书】:

1.一种双孔形位公差测量机构,测量时放置于具有双孔的部件的一侧,其特征在于,包括一对垂直于至少一个孔的轴向的第一导轨和在所述第一导轨上滑动的测量装置,所述测量装置包括

一固定框架,所述固定框架面对所述具有双孔的部件的侧面上,固定有至少一条垂直于所述第一导轨的第二导轨和在所述第二导轨上滑动的移动板;

所述移动板上还设置有垂直于所述第一导轨和第二导轨形成的平面的第三导轨,所述第三导轨上滑动着向所述具有双孔的部件延伸形成的测试臂,所述测试臂远离所述具有双孔的部件的一端在所述第三导轨上滑移,靠近所述具有双孔的部件的一端沿着所述双孔的轴向延伸形成有至少两个测试探头,每个测试探头至少与一个孔的轴向平行;

所述测试臂上设置有两个相反安装的第一测距传感器,两个第一测距传感器的测试方向与所述第三导轨平行,用于测量所述测试臂在第三导轨方向上的位移;

所述移动板还固定连接有两个相反安装的第二测距传感器,两个第二测距传感器的测试方向平行于所述第二导轨,用于测量所述移动板在所述第二导轨方向上的位移;

所述固定框架内还设置有至少一个第三测距传感器,所述第三测距传感器的测试方向平行于所述第一导轨,用于测量所述测量装置在所述第一导轨上的位移。

2.根据权利要求1所述的双孔形位公差测量机构,其特征在于,所述第一测距传感器、第二测距传感器和第三测距传感器皆为笔式传感器。

3.根据权利要求1所述的双孔形位公差测量机构,其特征在于,所述第三导轨两端分别设置有第一侧板和第二侧板,所述测试臂与所述第一侧板之间、所述测试臂与所述第二侧板之间皆固定有相同的第一弹簧,使得非工作状态下所述测试臂与所述第一侧板和所述第二侧板之间距离相等。

4.根据权利要求1所述的双孔形位公差测量机构,其特征在于,所述第一导轨两端在第三导轨方向上延伸形成第三侧板和第四侧板,所述固定框架和所述第三侧板、所述固定框架和所述第四侧板之间皆固定有相同的第二弹簧,使得非工作状态下,所述固定框架停靠在所述第一导轨的中央。

5.根据权利要求1所述的双孔形位公差测量机构,其特征在于,所述固定框架内还设置有与所述移动板和所述固定框架皆连接的两个沿着第三导轨方向排列的驱动气缸,分别定义为第一气缸和第二气缸,所述第一气缸与第二气缸缸径相同,所述第一气缸的行程等于所述第二气缸的行程的一半,所述第一气缸的活塞杆与所述移动板滑动连接,所述第二气缸的活塞杆与所述移动板固定连接。

6.根据权利要求5所述的双孔形位公差测量机构,其特征在于,所述移动板向所述固定框架内延伸形成有固定块,所述第二测距传感器与所述固定块固定连接,所述固定块向远离所述深孔的方向延伸形成有固定侧板,所述固定侧板的长度方向平行于所述第三导轨,所述第二气缸的活塞杆与所述固定侧板通过螺栓固定连接。

7.根据权利要求6所述的双孔形位公差测量机构,其特征在于,所述固定侧板朝向所述第一气缸的方向延伸形成圆管或者第四导轨,所述第一气缸的活塞杆在所述圆管内或者在第四导轨上滑动。

8.根据权利要求1所述的双孔形位公差测量机构,其特征在于,当双孔轴向平行且位置相对时,所述测试臂设置有两个测试探头且两个测试探头关于所述测试臂轴对称。

9.根据权利要求1所述的双孔形位公差测量机构,其特征在于,当双孔轴向相互垂直时,所述测试臂设置有两个所述测试探头,其中一个测试探头设置在测试臂的侧面,另一个测试探头设置在所述测试臂的端部,两个所述测试探头的轴线相互垂直。

10.根据权利要求1所述的双孔形位公差测量机构,其特征在于,所述第一测距传感器、第二测距传感器、第三测距传感器皆与计算系统信号连接,所述计算系统中设置有测量软件,所述测量软件根据所述第一测距传感器、所述第二测距传感器和第三测距传感器所发送的测量数据计算所述双孔的形位公差。

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