[发明专利]双孔形位公差测量机构

说明书

本发明提供一种双孔形位公差测量机构，固定框架在第一导轨上移动，固定框架面对具有双孔的部件的侧面上固定有垂直于第一导轨的第二导轨和移动板，移动板上的第三导轨上滑动着测试臂，测试臂一端至少有两个测试探头；测试臂上的第一测距传感器测量测试臂在第三导轨上的位移；移动板上的第二测距传感器测量移动板在第二导轨上的位移；固定框架的第三测距传感器测量测量装置在第一导轨上的位移。测量装置先移动，使得一个测试探头伸入一个孔内，然后测量装置向另一个孔移动，直至另一个测试探头伸入另一个孔内，根据第一测距传感器、第二测距传感器、第三测距传感器显示的位移数据，从而计算出两个孔的形位公差，减少人为干扰因素和人为差错。

技术领域

本发明涉及自动化检测领域，具体涉及一种双孔形位公差测量机构。

背景技术

自动检测就是在测量和检验过程中完全不需要或仅需要很少的人工干预而自动进行并完成的。实现自动检测可以提高自动化水平和程度，减少人为干扰因素和人为差错，可以提高生产过程或设备的可靠性及运行效率。

笔式传感器广泛应用于航天航空，机械，塑料，化工以及科研院校等国民经济各行各业，用来测量伸长、振动、物体厚度、膨胀等的高技术产品。笔式位移传感器具有优良的性能，适用于质量控制和计量应用中的高精度、高重复性的测量。如图1所示，目前大部分机构都是使用笔式传感器1’直接接触零件2’进行测量，在测量具有倾斜面的零件2’时，笔式传感器1’的测头会受到一个倾斜的作用力而产生变形，从而影响测量精度以及笔式传感器1’的使用寿命。尤其是目前在孔的测量中，若擅自使用笔式传感器伸入孔中测量，由于孔尤其是深孔内部肉眼不可见，因此笔式传感器在测量时变形程度也无法预知，从而严重影响了孔相关数据的测量。

发明内容

本发明提供了一种双孔形位公差测量机构，无需将笔式传感器伸入孔中测量，以解决现有技术中存在的测量精度低和传感器使用寿命低的问题。

为了解决上述技术问题，本发明提供一种双孔形位公差测量机构，测量时放置具有双孔的部件的一侧，其中，包括一对垂直于至少一个孔的轴向的第一导轨和在所述第一导轨上滑动的测量装置，所述测量装置包括

一固定框架，所述固定框架面对所述具有双孔的部件的侧面上固定有至少一条垂直于所述第一导轨的第二导轨和在所述第二导轨上滑动的移动板；

所述移动板上还设置有垂直于所述第一导轨和第二导轨形成的平面的第三导轨，所述第三导轨上滑动着向所述具有双孔的部件延伸形成的测试臂，所述测试臂远离所述具有双孔的部件的一端在所述第三导轨上滑移，靠近所述具有双孔的部件的一端沿着所述双孔的轴向延伸形成至少两个测试探头，每个测试探头至少与一个孔的轴向平行；

所述测试臂上设置有两个相反安装的第一测距传感器，两个第一测距传感器的测试方向与所述第三导轨平行，用于测量所述测试臂在第三导轨方向上的位移；

所述移动板还固定连接有两个相反安装的第二测距传感器，两个第二测距传感器的测试方向平行于所述第二导轨，用于测量所述移动板在所述第二导轨方向上的位移；

所述固定框架内还设置有至少一个第三测距传感器，所述第三测距传感器的测试方向平行于所述第一导轨，用于测量所述测量装置在所述第一导轨上的位移。

作为优选，所述第一测距传感器、第二测距传感器和第三测距传感器皆为笔式传感器。

作为优选，所述第三导轨两端分别设置有第一侧板和第二侧板，所述测试臂与所述第一侧板之间、所述测试臂与所述第二侧板之间皆固定有相同的第一弹簧，使得非工作状态下所述测试臂与所述第一侧板和所述第二侧板之间距离相等。

作为优选，所述第一导轨两端在第三导轨方向上延伸形成第三侧板和第四侧板，所述固定框架和所述第三侧板、所述固定框架和所述第四侧板之间皆固定有相同的第二弹簧，使得非工作状态下，所述固定框架停靠在所述第一导轨的中央。