[发明专利]深度测量方法、深度测量装置及拍摄设备有效
申请号: | 201810710604.3 | 申请日: | 2018-06-29 |
公开(公告)号: | CN109059795B | 公开(公告)日: | 2020-11-03 |
发明(设计)人: | 吕思豪 | 申请(专利权)人: | 歌尔光学科技有限公司 |
主分类号: | G01B11/22 | 分类号: | G01B11/22 |
代理公司: | 深圳市世纪恒程知识产权代理事务所 44287 | 代理人: | 胡海国 |
地址: | 261031 山东省潍坊市高新区东*** | 国省代码: | 山东;37 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 深度 测量方法 测量 装置 拍摄 设备 | ||
1.一种深度测量方法,其特征在于,所述深度测量方法包括以下步骤:
获取被测深度区间;
根据所述被测深度区间,确定检测光的第一预设光强;
按照所述第一预设光强发射检测光,并接收所述检测光被反射产生的第一反射光;
根据所述第一反射光确定被测深度;
在获取被测深度区间的步骤之前,所述深度测量方法还包括以下步骤:
按照预设规律改变检测光的光强;
在检测光的当前光强下,获取预设数目的与位于待标定深度的标定物体所对应的深度图像;
计算预设数目的所述深度图像中深度的离散程度;
比对所述离散程度和预设离散程度;
确定使所述离散程度小于所述预设离散程度的检测光的最小光强,记为与所述待标定深度对应的第三预设光强。
2.如权利要求1所述的深度测量方法,其特征在于,获取被测深度区间的步骤包括:
按照第二预设光强发射检测光,并接收所述检测光被反射产生的第二反射光;
根据所述第二反射光确定被测深度区间;
其中,所述第二预设光强大于或等于所述第一预设光强。
3.如权利要求1所述的深度测量方法,其特征在于,在确定使所述离散程度小于所述预设离散程度的检测光的最小光强,记为与所述待标定深度对应的第三预设光强的步骤之后,所述深度测量方法还包括以下步骤:
根据被测深度区间,确定所述被测深度区间的最大深度;
选取大于或等于所述最大深度的最小待标定深度;
将所述最小待标定深度对应的第三预设光强,记为与所述被测深度区间对应的第一预设光强。
4.如权利要求1所述的深度测量方法,其特征在于,在检测光的当前光强下,获取预设数目的与位于待标定深度的标定物体所对应的深度图像的步骤包括:
在检测光的当前光强下,按照预设时间间隔获取与位于待标定深度的标定物体所对应的深度图像,直至所述深度图像的数目达到所述预设数目;
其中,所述预设时间间隔为40ms~60ms。
5.如权利要求1所述的深度测量方法,其特征在于,计算预设数目的所述深度图像中深度的离散程度的步骤包括:
计算预设数目的所述深度图像中,对应于同一位置上的所有深度的离散程度,记为所述深度图像中该位置的离散程度;
获取所述深度图像的所有位置中的最大离散程度,记为预设数目的所述深度图像中深度的离散程度。
6.如权利要求1所述的深度测量方法,其特征在于,在比对所述离散程度和预设离散程度的步骤之后,所述深度测量方法还包括以下步骤:
在所述检测光的光强大于或等于第四预设光强时,若所述离散程度大于所述预设离散程度,则生成第一提示信号;
其中,所述第四预设光强大于或等于所述第一预设光强。
7.如权利要求1所述的深度测量方法,其特征在于,根据所述第一反射光确定被测深度的步骤包括:
检测所述第一反射光的平均光强;
当所述第一反射光的平均光强小于第五预设光强时,生成第二提示信号;
其中,所述第五预设光强小于所述第一预设光强。
8.一种深度测量装置,其特征在于,所述深度测量装置包括光发射件、光接收件、存储器、处理器及存储在所述存储器上并可在所述处理器上运行的深度测量程序,其中:
所述光发射件用以发射检测光;
所述光接收件用以接收所述检测光被反射产生的第一反射光;
所述深度测量程序被所述处理器执行时实现如权利要求1至7中任一项所述的深度测量方法的步骤。
9.一种拍摄设备,其特征在于,所述拍摄设备包括如权利要求8所述的深度测量装置。
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