[发明专利]深度测量方法、深度测量装置及拍摄设备

说明书

本发明公开一种深度测量方法、深度测量装置及拍摄设备，其中，深度测量方法包括以下步骤：获取被测深度区间；根据所述被测深度区间，确定检测光的第一预设光强；按照所述第一预设光强发射检测光，并接收所述检测光被反射产生的第一反射光；根据所述第一反射光确定被测深度。本发明技术方案有利于降低深度测量过程中的能耗。

技术领域

本发明涉及测量技术领域，特别涉及一种深度测量方法、深度测量装置及拍摄设备。

背景技术

为了获得被拍摄场景的深度信息，可以通过结构光进行深度测量。在结构光深度测量中，通过发射检测光，并接收检测光被反射产生的反射光，根据反射光确定深度。为了保障测量的稳定性，避免检测光在传输过程中大幅衰减而导致测量失败，通常根据所需测量的最大深度确定检测光的发射光强。然而，在有些情况下，大部分被测量的深度可能小于最大深度，因此所需的检测光的发射光强也较小，此时，持续以根据最大深度所确定的发射光强发射检测光，光发射件持续以较大功率运行，其自身温度很容易快速上升，并且将导致深度测量过程中的能耗增大。

发明内容

本发明的主要目的是提出一种深度测量方法，旨在解决上述深度测量过程中检测光的发射光强偏高的技术问题，降低深度测量过程中的能耗。

为实现上述目的，本发明提出的深度测量方法，包括以下步骤：

获取被测深度区间；

根据所述被测深度区间，确定检测光的第一预设光强；

按照所述第一预设光强发射检测光，并接收所述检测光被反射产生的第一反射光；

根据所述第一反射光确定被测深度。

优选地，获取被测深度区间的步骤包括：

按照第二预设光强发射检测光，并接收所述检测光被反射产生的第二反射光；

根据所述第二反射光确定被测深度区间；

其中，所述第二预设光强大于或等于所述第一预设光强。

优选地，在获取被测深度区间的步骤之前，所述深度测量方法还包括以下步骤：

按照预设规律改变检测光的光强；

在检测光的当前光强下，获取预设数目的与位于待标定深度的标定物体所对应的深度图像；

计算预设数目的所述深度图像中深度的离散程度；

比对所述离散程度和预设离散程度；

确定使所述离散程度小于所述预设离散程度的检测光的最小光强，记为与所述待标定深度对应的第三预设光强。

优选地，在确定使所述离散程度小于所述预设离散程度的检测光的最小光强，记为与所述待标定深度对应的第三预设光强的步骤之后，所述深度测量方法还包括以下步骤：

根据被测深度区间，确定所述被测深度区间的最大深度；

选取大于或等于所述最大深度的最小待标定深度；

将所述最小待标定深度对应的第三预设光强，记为与所述被测深度区间对应的第一预设光强。

优选地，在检测光的当前光强下，获取预设数目的与位于待标定深度的标定物体所对应的深度图像的步骤包括：

在检测光的当前光强下，按照预设时间间隔获取与位于待标定深度的标定物体所对应的深度图像，直至所述深度图像的数目达到所述预设数目；

其中，所述预设时间间隔为40ms～60ms。

优选地，计算预设数目的所述深度图像中深度的离散程度的步骤包括：