[发明专利]一种测试激励分段及编码方法

权利要求书

1.一种测试激励分段及编码方法，其特征在于，将测试激励进行均匀分段操作，而后，根据每一分段的测试数据之间的相容性，将每一分段的8位数据编码为5位数据；还包括将每一分段的8位数据编码为5位数据后，使用芯片的5个输入端完成8位测试激励的输入；

测试数据之间的相容性定义方式如下：将当前分段的8位数据和前一个分段的8位数据按照位置进行对比，若对应的两数据位相同或者若当前分段中有为x位的数据位，则定义该数据位或该些数据位具有相容性；

将每一分段的8位数据编码为5位数据的方式如下：

设测试激励当前分段的数据用8位数据表示为t₈t₇t₆t₅t₄t₃t₂t₁，t₈t₇t₆t₅t₄t₃t₂t₁中n个数据位具有相容性，且t₈t₇t₆t₅t₄t₃t₂t₁中为x位的数据位被置1后的数据用s₈s₇s₆s₅s₄s₃s₂s₁表示，t₈t₇t₆t₅t₄t₃t₂t₁编码后的数据用e₅e₄e₃e₂e₁表示，与前一个分段后的测试激励分段对比，当前分段需要取反的数据位数量用p表示，其取值范围是0≤p≤8；

在p＝0的情况下，表示当前分段的数据与前一个分段的数据对比，当前分段t₈t₇t₆t₅t₄t₃t₂t₁的8位数据中需要取反的位数为0，e₅e₄e₃编码为000，该情况下的e₂e₁取值可以被忽略，可以直接使用前一个分段的数据作为当前分段的数据；在p＝0的情况下解码电路仅需一个ATE的测试周期；

在p＝1的情况下，表示当前分段的数据与前一个分段的数据相比，当前分段t₈t₇t₆t₅t₄t₃t₂t₁的8位数据中只有一位需要取反，即共有8种状态；当当前分段取反的数据发生在t₈t₇t₆t₅t₄t₃t₂t₁的低四位时，e₅e₄e₃编码为001，e₂e₁的二进制形式根据t₄t₃t₂t₁的位置进行二进制编码；当当前分段取反的数据发生在t₈t₇t₆t₅t₄t₃t₂t₁的高四位时，e₅e₄e₃为010，e₂e₁的二进制形式根据t₈t₇t₆t₅的位置进行二进制编码；在p＝1的情况下解码电路仅需一个ATE的测试周期；

在p＞1的情况下，表示当前分段的数据与上一个分段的数据相比，当前分段t₈t₇t₆t₅t₄t₃t₂t₁的8位数据有多位需要取反操作，为了减少解码电路的复杂性，用两个ATE的测试周期完成分段数据的传输，e₅被设置为标志位并固定编码为1，在ATE的第一个测试周期内将e₄e₃e₂e₁编码为s₄s₃s₂s₁，在ATE的第二个周期内将e₄e₃e₂e₁被编码为s₈s₇s₆s₅；

测试激励的第一个分段统一按照p＞1的情况执行编码。