[发明专利]金属氧化物半导体薄膜晶体管阵列基板及其制作方法有效
申请号: | 201810716118.2 | 申请日: | 2018-06-29 |
公开(公告)号: | CN109037150B | 公开(公告)日: | 2021-03-23 |
发明(设计)人: | 钟德镇;刘仕彬 | 申请(专利权)人: | 昆山龙腾光电股份有限公司 |
主分类号: | H01L21/77 | 分类号: | H01L21/77;H01L27/12;G02F1/1368 |
代理公司: | 上海波拓知识产权代理有限公司 31264 | 代理人: | 杨波 |
地址: | 215301 *** | 国省代码: | 江苏;32 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 金属 氧化物 半导体 薄膜晶体管 阵列 及其 制作方法 | ||
1.一种金属氧化物半导体薄膜晶体管阵列基板的制作方法,其特征在于,该制作方法包括:
在衬底基板(10)上形成栅极(21)和多条扫描线(11);
在该栅极(21)上依次形成栅极绝缘层(101)和金属氧化物层(102);
在该金属氧化物层(102)上涂布光阻(102′),并对信号线区域(202)上的光阻(102′)进行半曝光,使得在显影后留下的光阻(102′)中,信号线区域(202)上的光阻厚度(T2)小于半导体层区域(201)上的光阻厚度(T1);
蚀刻去除掉半导体层区域(201)和信号线区域(202)之外的金属氧化物层(102)以形成位于半导体层区域(201)的金属氧化物半导体层(22),去除信号线区域(202)上的光阻(102′),将信号线区域(202)的金属氧化物层(102)进行离子注入由半导体转化为导体形成位于信号线区域(202)的信号线(25);
去除半导体层区域(201)上的光阻(102′);
在该金属氧化物半导体层(22)和信号线(25)上形成蚀刻阻挡层(103),蚀刻阻挡层(103)覆盖金属氧化物半导体层(22)和部分信号线(25)使得信号线(25)包括覆盖区域(251)和未覆盖区域(252);
同一个光罩制程形成的源极(23)、漏极(24)、导电条(26)和多条数据线(12),多条该扫描线(11)与多条该数据线(12)绝缘交叉限定形成呈阵列排布的多个像素单元;源极(23)和漏极(24)形成在位于金属氧化物半导体层(22)上方的蚀刻阻挡层(103)上,源极(23)和漏极(24)相互间隔并分别与位于金属氧化物半导体层(22)上方的蚀刻阻挡层(103)接触连接,导电条(26)形成在信号线(25)的未覆盖区域(252)上与信号线(25)接触连接,该导电条(26)设置在该像素单元内且靠近上侧的扫描线(11),该导电条(26)的长度延伸方向与该扫描线(11)的延伸方向一致;以及
形成绝缘平坦层(30)并在绝缘平坦层(30)上方形成相互绝缘的公共电极(13)和像素电极(14),公共电极(13)与导电条(26)电连接,像素电极(14)与漏极(24)电连接。
2.根据权利要求1所述的金属氧化物半导体薄膜晶体管阵列基板的制作方法,其特征在于,绝缘平坦层(30)包括绝缘层(104)和平坦层(105),该制作方法包括:在源极(23)、漏极(24)和导电条(26)上形成绝缘层(104),在该绝缘层(104)上形成绝缘层第一通孔(104a)以将导电条(26)显露出来,在绝缘层(104)上形成平坦层(105),在该平坦层(105)上形成平坦层第一通孔(105a)和平坦层第二通孔(105b),平坦层第一通孔(105a)形成在绝缘层第一通孔(104a)上与该绝缘层第一通孔(104a)贯通形成绝缘平坦层(30)的第一接触孔(31)以将部分导电条(26)显露出来,在平坦层(105)上形成第公共电极(13)并填入第一接触孔(31)内与导电条(26)接触连接;在公共电极(13)上形成绝缘保护层(106),形成的绝缘保护层(106)填入平坦层第二通孔(105b)内与绝缘层(104)接触并层叠设置,在平坦层第二通孔(105b)内层叠设置的绝缘层(104)和绝缘保护层(106)上形成第二接触孔(32);在绝缘保护层(106)上形成像素电极(14)并填入第二接触孔(32)内与漏极(24)接触连接。
3.根据权利要求1所述的金属氧化物半导体薄膜晶体管阵列基板的制作方法,其特征在于,该绝缘平坦层(30)包括平坦层(105),该制作方法包括:在源极(23)、漏极(24)和导电条(26)上形成平坦层(105),在该平坦层(105)上形成平坦层第一通孔(105a)和平坦层第二通孔(105b),平坦层第一通孔(105a)为第一接触孔(31)用于将导电条(26)显露出来,在平坦层(105)上形成公共电极(13)并填入第一接触孔(31)内与导电条(26)接触连接;在公共电极(13)上形成绝缘保护层(106)并填入平坦层(105)的平坦层第二通孔(105b)内,在平坦层第二通孔(105b)内的绝缘保护层(106)上形成第二接触孔(32);在绝缘保护层(106)上形成像素电极(14)并填入第二接触孔(32)内与漏极(24)接触连接。
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H01L 半导体器件;其他类目中不包括的电固体器件
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H01L21-02 .半导体器件或其部件的制造或处理
H01L21-64 .非专门适用于包含在H01L 31/00至H01L 51/00各组的单个器件所使用的除半导体器件之外的固体器件或其部件的制造或处理
H01L21-66 .在制造或处理过程中的测试或测量
H01L21-67 .专门适用于在制造或处理过程中处理半导体或电固体器件的装置;专门适合于在半导体或电固体器件或部件的制造或处理过程中处理晶片的装置
H01L21-70 .由在一共用基片内或其上形成的多个固态组件或集成电路组成的器件或其部件的制造或处理;集成电路器件或其特殊部件的制造