[发明专利]天线近场测试方法及装置

权利要求书

1.一种天线近场测试方法，其特征在于，应用于天线近场测试装置中，所述天线近场测试装置用于对一天线产品的辐射性能进行测试，该天线近场测试装置包括264个呈球形分布的探头，所述264个探头分布在球坐标的θ轴和Φ轴分别间隔15°的位置，所述方法包括：

当获取到测量所述天线产品发射机的信号时，控制264个探头同时启动，以获取每个所述探头检测的第一数据，并根据所述第一数据计算所述发射机的辐射功率；和/或，

当获取到测量所述天线产品接收机的信号时，控制所述264个探头中与60个目标位置对应的所述探头同时启动，以获取每个所述目标位置的所述探头检测的第二数据，并根据所述第二数据计算所述接收机的灵敏度，所述60个目标位置为分布在所述球坐标的θ轴和Φ轴上间隔30°的位置。

2.如权利要求1所述的天线近场测试方法，其特征在于，所述天线近场测试装置还包括第一控制开关和第二控制开关，264个探头分别与所述第一控制开关连接，每个所述目标位置的探头与所述第二控制开关连接，其中，

所述控制264个探头同时启动的步骤包括：

控制所述第一控制开关开启，以使264个探头同时启动；

控制所述264个探头中与60个目标位置对应的所述探头同时启动的步骤包括：

控制所述第二控制开关开启，以使所述264个探头中与60个目标位置对应的所述探头同时启动。

3.如权利要求1所述的天线近场测试方法，其特征在于，所述控制264个探头同时启动，以获取每个所述探头检测的第一数据的步骤包括：

在预设的时间段内，以预设的时间间隔控制264个探头启动，以得到多个第一数据组，每个所述第一数据组包括其中一时间间隔内264个探头测量的第一数据；

所述根据所述第一数据计算所述发射机的辐射功率的步骤包括：

对多个第一数据组中的每个探头测量的第一数据进行均值计算，并根据计算得到的平均值计算所述发射机的辐射功率；

所述控制所述264个探头中与60个目标位置对应的所述探头同时启动，以获取每个所述目标位置的所述探头检测的第二数据的步骤包括：

在所述时间段内，以所述时间间隔控制所述264个探头中与60个目标位置对应的所述探头同时启动，以得到多个第二数据组，每个所述第二数据组包括其中一时间间隔内60个目标位置的探头测量的第二数据；

所述根据所述第二数据计算所述接收的机灵敏度的步骤包括：

对多个第二数据组中的每个探头测量的第二数据进行均值计算，并根据计算得到的平均值计算所述接收的机灵敏度。

4.如权利要求1所述的天线近场测试方法，其特征在于，所述根据所述第一数据计算所述发射机的辐射功率的步骤还包括：

判断所述辐射功率是否低于阈值功率；

若是，发出一报错提示信息。

5.如权利要求1所述的天线近场测试方法，其特征在于，所述根据所述第二数据计算所述接收机的灵敏度的步骤之后还包括：

判断所述灵敏度是否低于阈值灵敏度；

若是，发出一报错提示信息。

6.如权利要求1所述的天线近场测试方法，其特征在于，所述根据所述第一数据计算所述发射机的辐射功率的计算公式为：

其中，TRP为发射机的总全向辐射功率，N和M分别是θ轴和Φ轴的采样点数，Eirp_θ(θ_i,Φ_j)和Eirp_Φ(θ_i,Φ_j)均为第一数据，其分别为θ轴和Φ轴上各个角度上测量的单点有效功率。