[发明专利]天线近场测试方法及装置

说明书

一种天线近场测试方法及装置，该天线近场测试装置包括264个呈球形分布的探头，264个探头分布在球坐标的θ轴和Φ轴分别间隔15°的位置，该测试方法包括：当获取到测量天线产品发射机的信号时，控制264个探头同时启动，以获取每个探头检测的第一数据；根据第一数据计算所述发射机的辐射功率；当获取到测量天线产品接收机的信号时，控制60个目标位置的探头同时启动，以获取每个所述目标位置的所述探头检测的第二数据，所述60个目标位置分布在所述球坐标的θ轴和Φ轴上间隔30°的位置；根据所述第二数据计算所述接收机的灵敏度。本发明实施例中排除了人为的摆放位置，捆绑手法不同，转台速度快慢等对测试结果的影响，其测试速度快，且测试结果精确。

技术领域

本发明涉及天线测试技术领域，特别是涉及一种天线近场测试方法及装置。

背景技术

随着移动通讯的迅猛发展推动了天线的研发工作，各种电子产品(如手机、平板电脑、可穿戴设备等)、移动通讯基站、军工装备等设备中，均使用到天线。天线测量的速度、精度等已成为企业研发工作进程的瓶颈。

目前国际上流行的天线测试有两种，即远场测试和近场测试，其中，远场测试，如大环法在测试，其测试数据虽然比较精准，但是时间比较久，效率不是很高。而近场测试速度相较远场而言，要快很多，是目前关于天线调试研发期主选的测试系统。

但是近场测试，如圆锥切法测试，在测试环境中，需要将天线产品放置在一个转台上，转台每转过一个角度，探头都会快速一次扫描一次成一个圆面，这样很快能获得近场的数据，软件会对数据进行变换再得到远场的数据。这种测试环境要复杂一些，人为摆放，转台转速快慢等干扰因素较多，因此精度较低。

发明内容

鉴于上述状况，有必要针对现有技术中近场测试精确度低的问题，提供一种天线近场测试方法及装置。

一种天线近场测试方法，应用于天线近场测试装置中，所述天线近场测试装置用于对一天线产品的辐射性能进行测试，该天线近场测试装置包括264个呈球形分布的探头，所述264个探头分布在球坐标的θ轴和Φ轴分别间隔15°的位置，所述方法包括：

当获取到测量所述天线产品发射机的信号时，控制264个探头同时启动，以获取每个所述探头检测的第一数据，并根据所述第一数据计算所述发射机的辐射功率；和/或，

当获取到测量所述天线产品接收机的信号时，控制所述264个探头中与60个目标位置对应的所述探头同时启动，以获取每个所述目标位置的所述探头检测的第二数据，并根据所述第二数据计算所述接收机的灵敏度，所述60个目标位置为分布在所述球坐标的θ轴和Φ轴上间隔30°的位置。

进一步的，上述天线近场测试方法，其中，所述天线近场测试装置还包括第一控制开关和第二控制开关，264个探头分别与所述第一控制开关连接，每个所述目标位置的探头与所述第二控制开关连接，其中，

所述控制264个探头同时启动的步骤包括：

控制所述第一控制开关开启，以使264个探头同时启动；

控制所述264个探头中与60个目标位置对应的所述探头同时启动的步骤包括：

控制所述第二控制开关开启，以使所述264个探头中与60个目标位置对应的所述探头同时启动。

进一步的，上述天线近场测试方法，其中，所述控制264个探头同时启动，以获取每个所述探头检测的第一数据的步骤包括：

在预设的时间段内，以预设的时间间隔控制264个探头启动，以得到多个第一数据组，每个所述第一数据组包括其中一时间间隔内264个探头测量的第一数据；

所述根据所述第一数据计算所述发射机的辐射功率的步骤包括：

对多个第一数据组中的每个探头测量的第一数据进行均值计算，并根据计算得到的平均值计算所述发射机的辐射功率；