[发明专利]一种芯片工作状态选择电路、方法及其应用

权利要求书

1.一种芯片工作状态选择电路，其特征在于，包括第一电阻RV、第二电阻RF和阻值处理电路(1)，所述的阻值处理电路(1)封装在芯片U1中，所述的第一电阻RV和第二电阻RF分别通过芯片U1的两个管脚与阻值处理电路(1)相连；

阻值处理电路(1)将采集到的阻值信号相比得到表征第一电阻RV与第二电阻RF阻值比的比例信号VD，通过调整第一电阻RV与第二电阻RF的阻值比，使得芯片U1中的功能电路根据与阻值比对应的比例信号VD调整芯片U1的工作状态。

2.根据权利要求1所述的芯片工作状态选择电路，其特征在于，所述芯片U1的管脚包括控制管脚A和功能管脚B，所述控制管脚A与可调整的第一电阻RV相连用于提供阻值比中变化部分的阻值，所述功能管脚B被配置为与固定的第二电阻RF相连用于提供阻值比中固定部分的阻值。

3.根据权利要求2所述的芯片工作状态选择电路，其特征在于，所述功能管脚B还分别与封装在芯片U1内的使用电路(3)及阻值处理电路(1)相连，第二电阻RF作为使用电路(3)在芯片U1外的外设电阻。

4.根据权利要求1所述的芯片工作状态选择电路，其特征在于，所述阻值处理电路(1)输出的比例信号VD为数字信号。

5.根据权利要求1所述的芯片工作状态选择电路，其特征在于，所述的阻值处理电路(1)包括电流源和模数转换器ADC，所述第一电阻RV的一端与电流源相连接另一端接地，第一电阻RV与电流源之间设有第一采样点O，所述第二电阻RF的一端与的电流源相连接另一端接地，第二电阻RF与电流源之间设有第二采样点P；

所述的第一采样点O和第二采样点P分别与模数转换器ADC的输入端相连接，所述模数转换器ADC被配置为将第一电阻RV与第二电阻RF相比并将相比结果进行模数转换得到比例信号VD。

6.根据权利要求5所述的芯片工作状态选择电路，其特征在于，所述第一采样点O与电流源之间设有采样开关，所述第二采样点P与电流源之间也设有采样开关，采样开关被配置为在芯片U1上电时导通，进而在上电时刻得到表征第一电阻RV与第二电阻RF比值的比例信号VD。

7.根据权利要求1所述的芯片工作状态选择电路，其特征在于，所述阻值处理电路(1)的输出与功能电路的控制输入相连，比例信号VD可以直接输入至对应的功能电路，功能电路根据与阻值比对应的比例信号VD调整芯片U1的工作状态；

或者还包括状态控制电路(2)，阻值处理电路(1)的输出与状态控制电路(2)的输入相连，比例信号VD输入至状态控制电路(2)中，状态控制电路(2)根据与阻值比对应的比例信号VD控制对应的功能电路，进而完成对芯片U1工作状态的调整。

8.根据权利要求1至7任一项所述的芯片工作状态选择电路，其特征在于，所述第一电阻RV和第二电阻RF是两个独立电阻的形式或第一电阻RV和第二电阻RF分别表示与芯片U1的两个管脚相连接的等效电阻。

9.根据权利要求1至7任一项所述的芯片工作状态选择电路，其特征在于，所述芯片U1中的功能电路根据与阻值比对应的比例信号VD调整芯片U1的工作状态，包括调整芯片的工作模式、调整芯片的工作参数、功能选择。